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FQD9N25TM

更新时间: 2024-09-12 12:23:27
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飞兆/仙童 - FAIRCHILD 晶体晶体管开关脉冲
页数 文件大小 规格书
8页 752K
描述
250V N-Channel MOSFET

FQD9N25TM 技术参数

是否无铅: 不含铅是否Rohs认证: 符合
生命周期:Transferred零件包装代码:DPAK
包装说明:DPAK-3针数:3
Reach Compliance Code:not_compliantECCN代码:EAR99
HTS代码:8541.29.00.95风险等级:5.14
雪崩能效等级(Eas):165 mJ外壳连接:DRAIN
配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE最小漏源击穿电压:250 V
最大漏极电流 (Abs) (ID):7.4 A最大漏极电流 (ID):7.4 A
最大漏源导通电阻:0.42 ΩFET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JEDEC-95代码:TO-252JESD-30 代码:R-PSSO-G2
JESD-609代码:e3湿度敏感等级:1
元件数量:1端子数量:2
工作模式:ENHANCEMENT MODE最高工作温度:150 °C
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE峰值回流温度(摄氏度):260
极性/信道类型:N-CHANNEL最大功率耗散 (Abs):55 W
最大脉冲漏极电流 (IDM):29.6 A认证状态:Not Qualified
子类别:FET General Purpose Powers表面贴装:YES
端子面层:Matte Tin (Sn)端子形式:GULL WING
端子位置:SINGLE处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
晶体管应用:SWITCHING晶体管元件材料:SILICON
Base Number Matches:1

FQD9N25TM 数据手册

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February 2011  
®
QFET®  
FQD9N25TM_F085  
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7.4A, 250V, RDS(on)=0.42 @VGS=10V  
Low gate charge (typical 15.5nC)  
Low Crss (typical 15pF)  
Fast switching  
100% avalanche tested  
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Improved dv/dt capability  
RoHS Compliant  
Qualified to AEC Q101  
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©2011 Fairchild Semiconductor Corporation  
FQD9N25TM_F085 Rev.C  
www.fairchildsemi.com  

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型号 品牌 替代类型 描述 数据表
FQD9N25TF FAIRCHILD

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