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IRHNA67260

更新时间: 2024-02-08 23:28:07
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英飞凌 - INFINEON 晶体晶体管功率场效应晶体管开关脉冲
页数 文件大小 规格书
8页 141K
描述
RADIATION HARDENED POWER MOSFET SURFACE-MOUNT (SMD-2)

IRHNA67260 技术参数

生命周期:Active包装说明:SMD-2, 3 PIN
Reach Compliance Code:compliant风险等级:5.82
雪崩能效等级(Eas):268 mJ外壳连接:DRAIN
配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE最小漏源击穿电压:200 V
最大漏极电流 (Abs) (ID):56 A最大漏极电流 (ID):56 A
最大漏源导通电阻:0.028 ΩFET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码:R-CBCC-N3元件数量:1
端子数量:3工作模式:ENHANCEMENT MODE
最高工作温度:150 °C最低工作温度:-55 °C
封装主体材料:CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED封装形状:RECTANGULAR
封装形式:CHIP CARRIER极性/信道类型:N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs):250 W最大脉冲漏极电流 (IDM):224 A
参考标准:RH - 100K Rad(Si)表面贴装:YES
端子形式:NO LEAD端子位置:BOTTOM
晶体管应用:SWITCHING晶体管元件材料:SILICON
最大关闭时间(toff):150 ns最大开启时间(吨):200 ns

IRHNA67260 数据手册

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Pre-Irradiation  
IRHNA67260  
20  
16  
12  
8
14000  
56A  
=
D
I
100KHz  
V
= 0V,  
f =
GS  
V
V
V
= 160V  
= 100V  
= 40V  
DS  
DS  
DS  
C
= C + C  
C
SHORTED  
iss  
gs  
gd , ds  
C
= C  
gd  
12000  
10000  
8000  
6000  
4000  
2000  
0
rss  
C
= C + C  
ds  
oss  
gd  
C
iss  
C
oss  
4
C
rss  
FOR TEST CIRCUIT  
SEE FIGURE 13  
0
1
10  
100  
0
50  
100  
150  
200  
250  
V
, Drain-to-Source Voltage (V)  
Q , Total Gate Charge (nC)  
DS  
G
Fig 6. Typical Gate Charge Vs.  
Fig 5. Typical Capacitance Vs.  
Gate-to-SourceVoltage  
Drain-to-SourceVoltage  
1000  
100  
10  
1000  
OPERATION IN THIS AREA  
LIMITED BY R  
(on)  
DS  
T
= 150°C  
J
100  
10  
1
100µs  
1ms  
= 25°C  
T
J
1
10ms  
Tc = 25°C  
Tj = 150°C  
Single Pulse  
V
= 0V  
GS  
0.1  
0.1  
0.2  
0.4  
0.6  
0.8  
1.0  
1.2  
1.4  
1.0  
10  
100  
1000  
V
, Source-to-Drain Voltage (V)  
V
, Drain-toSource Voltage (V)  
SD  
DS  
Fig 8. Maximum Safe Operating Area  
Fig 7. Typical Source-Drain Diode  
ForwardVoltage  
www.irf.com  
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