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Datasheet > 晶体管 > 功率场效应晶体管> IRHN93150PBF
IRHN93150PBF PDF预览

IRHN93150PBF

更新时间： 2024-11-18 13:08:51
品牌 Logo 应用领域
英飞凌 - INFINEON 晶体晶体管功率场效应晶体管开关脉冲局域网
页数 文件大小 规格书
8页 132K
描述
Power Field-Effect Transistor, 22A I(D), 100V, 0.085ohm, 1-Element, P-Channel, Silicon, Metal-oxide Semiconductor FET, HERMETIC SEALED, CERAMIC, SMD-1, 3 PIN

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IRHN93150PBF 技术参数

是否Rohs认证：符合生命周期：Active
包装说明：CHIP CARRIER, R-CBCC-N3Reach Compliance Code：compliant
风险等级：5.72Is Samacsys：N
其他特性：RADIATION HARDENED; AVALANCHE RATED雪崩能效等级（Eas）：500 mJ
外壳连接：DRAIN配置：SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压：100 V最大漏极电流 (ID)：22 A
最大漏源导通电阻：0.085 ΩFET 技术：METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码：R-CBCC-N3元件数量：1
端子数量：3工作模式：ENHANCEMENT MODE
最高工作温度：150 °C封装主体材料：CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装形状：RECTANGULAR封装形式：CHIP CARRIER
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED极性/信道类型：P-CHANNEL
最大脉冲漏极电流 (IDM)：88 A表面贴装：YES
端子形式：NO LEAD端子位置：BOTTOM
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED晶体管应用：SWITCHING
晶体管元件材料：SILICONBase Number Matches：1

IRHN93150PBF 数据手册

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PD - 90885F  
IRHN9150  
JANSR2N7422U  
100V, P-CHANNEL  
REF: MIL-PRF-19500/662  
RADIATION HARDENED  
POWER MOSFET  
SURFACE MOUNT (SMD-1)  
RAD Hard™ HEXFET® TECHNOLOGY  
Product Summary  
Part Number Radiation Level RDS(on)  
ID  
QPL Part Number  
JANSR2N7422U  
JANSF2N7422U  
IRHN9150  
100K Rads (Si)  
0.080Ω  
0.080Ω  
-22A  
-22A  
IRHN93150 300K Rads (Si)  
SMD-1  
International Rectifier’s RADHard HEXFETTM  
technology provides high performance power  
MOSFETs for space applications. This technology  
has over a decade of proven performance and  
reliability in satellite applications. These devices have  
been characterized for both Total Dose and Single  
Event Effects (SEE). The combination of low Rdson  
and low gate charge reduces the power losses in  
switching applications such as DC to DC converters  
and motor control. These devices retain all of the  
well established advantages of MOSFETs such as  
voltage control, fast switching, ease of paralleling  
and temperature stability of electrical parameters.  
Features:  
n
n
n
n
n
n
n
n
n
n
Single Event Effect (SEE) Hardened  
Low RDS(on)  
LowTotal Gate Charge  
Proton Tolerant  
Simple Drive Requirements  
Ease of Paralleling  
Hermetically Sealed  
Surface Mount  
Ceramic Package  
Light Weight  
Absolute Maximum Ratings  
Pre-Irradiation  
Parameter  
Units  
I
@ V  
@ V  
= -12V, T = 25°C Continuous Drain Current  
-22  
-14  
D
D
GS  
GS  
C
A
I
= -12V, T = 100°C Continuous Drain Current  
C
I
Pulsed Drain Current ➀  
Max. Power Dissipation  
Linear Derating Factor  
-88  
DM  
@ T = 25°C  
P
D
150  
W
W/°C  
V
C
1.2  
V
GS  
Gate-to-SourceVoltage  
±20  
E
Single Pulse Avalanche Energy ➀  
Avalanche Current ➀  
500  
mJ  
A
AS  
I
-22  
AR  
E
Repetitive Avalanche Energy ➀  
Peak Diode Recovery dv/dt ➀  
Operating Junction  
15  
mJ  
AR  
dv/dt  
-23  
V/ns  
T
-55 to 150  
J
oC  
g
T
STG  
StorageTemperature Range  
PCKG Mounting Surface Temp.  
Weight  
300 ( for 5s)  
2.6 (typical)  
For footnotes refer to the last page  
www.irf.com  
1
04/07/04  
12345678

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型号 品牌 获取价格 描述 数据表
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