是否无铅: | 不含铅 | 是否Rohs认证: | 符合 |
生命周期: | Obsolete | 包装说明: | BGA, BGA92,9X21,32 |
Reach Compliance Code: | compliant | 风险等级: | 5.84 |
访问模式: | MULTI BANK PAGE BURST | 最长访问时间: | 0.5 ns |
其他特性: | AUTO/SELF REFRESH | 最大时钟频率 (fCLK): | 267 MHz |
I/O 类型: | COMMON | 交错的突发长度: | 4,8 |
JESD-30 代码: | R-PBGA-B92 | 长度: | 21.7 mm |
内存密度: | 1073741824 bit | 内存集成电路类型: | DDR DRAM |
内存宽度: | 16 | 湿度敏感等级: | 3 |
功能数量: | 1 | 端口数量: | 1 |
端子数量: | 92 | 字数: | 67108864 words |
字数代码: | 64000000 | 工作模式: | SYNCHRONOUS |
最高工作温度: | 85 °C | 最低工作温度: | |
组织: | 64MX16 | 输出特性: | 3-STATE |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | BGA |
封装等效代码: | BGA92,9X21,32 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | GRID ARRAY | 峰值回流温度(摄氏度): | 260 |
电源: | 1.8 V | 认证状态: | Not Qualified |
刷新周期: | 8192 | 座面最大高度: | 1.2 mm |
自我刷新: | YES | 连续突发长度: | 4,8 |
子类别: | DRAMs | 最大供电电压 (Vsup): | 1.9 V |
最小供电电压 (Vsup): | 1.7 V | 标称供电电压 (Vsup): | 1.8 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
温度等级: | OTHER | 端子形式: | BALL |
端子节距: | 0.8 mm | 端子位置: | BOTTOM |
处于峰值回流温度下的最长时间: | NOT SPECIFIED | 宽度: | 11 mm |
Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4T1G164QQ | SAMSUNG |
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1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G164QQ-HC(L)E6 | SAMSUNG |
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1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G164QQ-HC(L)E7 | SAMSUNG |
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1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G164QQ-HC(L)F7 | SAMSUNG |
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1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G164QQ-HCE6 | SAMSUNG |
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1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G164QQ-HCE7 | SAMSUNG |
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1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G164QQ-HCE70 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, 0.4ns, CMOS, PBGA84, ROHS COMPLIANT, FBGA-84 | |
K4T1G164QQ-HCE7T | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, 0.4ns, CMOS, PBGA84 | |
K4T1G164QQ-HCF7 | SAMSUNG |
获取价格 |
1Gb Q-die DDR2 SDRAM Specification | |
K4T1G164QQ-HCF7T | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 64MX16, 0.4ns, CMOS, PBGA84 |