生命周期: | Obsolete | 包装说明: | TFBGA, BGA84,9X15,32 |
Reach Compliance Code: | compliant | 风险等级: | 5.73 |
访问模式: | FOUR BANK PAGE BURST | 最长访问时间: | 0.35 ns |
其他特性: | AUTO/SELF REFRESH | 最大时钟频率 (fCLK): | 533 MHz |
I/O 类型: | COMMON | 交错的突发长度: | 4,8 |
JESD-30 代码: | R-PBGA-B84 | 长度: | 12.5 mm |
内存密度: | 134217728 bit | 内存集成电路类型: | DDR DRAM |
内存宽度: | 16 | 功能数量: | 1 |
端口数量: | 1 | 端子数量: | 84 |
字数: | 8388608 words | 字数代码: | 8000000 |
工作模式: | SYNCHRONOUS | 最高工作温度: | 85 °C |
最低工作温度: | 组织: | 8MX16 | |
输出特性: | 3-STATE | 封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY |
封装代码: | TFBGA | 封装等效代码: | BGA84,9X15,32 |
封装形状: | RECTANGULAR | 封装形式: | GRID ARRAY, THIN PROFILE, FINE PITCH |
电源: | 1.8 V | 认证状态: | Not Qualified |
刷新周期: | 4096 | 座面最大高度: | 1.2 mm |
自我刷新: | YES | 连续突发长度: | 4,8 |
最大待机电流: | 0.008 A | 子类别: | DRAMs |
最大压摆率: | 0.2 mA | 最大供电电压 (Vsup): | 1.9 V |
最小供电电压 (Vsup): | 1.7 V | 标称供电电压 (Vsup): | 1.8 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
温度等级: | OTHER | 端子形式: | BALL |
端子节距: | 0.8 mm | 端子位置: | BOTTOM |
宽度: | 7.5 mm | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4T2G044QA-HCE7 | SAMSUNG |
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暂无描述 | |
K4T2G044QA-HCE70 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA68, ROHS COMPLIANT, FBGA-68 | |
K4T2G044QA-HCF7T | SAMSUNG |
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Cache DRAM Module, 512MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA68 | |
K4T2G044QA-HLE6 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.45ns, CMOS, PBGA68, | |
K4T2G044QA-HLE60 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.45ns, CMOS, PBGA68, | |
K4T2G044QA-HLE7 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA68, | |
K4T2G044QA-HLE70 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA68, | |
K4T2G044QA-HLE7T | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA68, | |
K4T2G044QA-HLF7 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA68, | |
K4T2G044QA-HLF70 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 512MX4, 0.4ns, CMOS, PBGA68, |