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TPCP8505

更新时间： 2024-09-24 03:26:47
品牌 Logo 应用领域
东芝 - TOSHIBA 晶体晶体管功率双极晶体管开关光电二极管PC
页数 文件大小 规格书
5页 206K
描述
TOSHIBA Transistor Silicon NPN Epitaxial Type (PCT Process

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TPCP8505 技术参数

是否Rohs认证： 符合生命周期：Active
包装说明：2-3V1A, 8 PIN针数：8
Reach Compliance Code：unknownECCN代码：EAR99
风险等级：5.45最大集电极电流 (IC)：3 A
集电极-发射极最大电压：50 V配置：SINGLE
最小直流电流增益 (hFE)：200JESD-30 代码：R-PDSO-F8
元件数量：1端子数量：8
最高工作温度：150 °C封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装形状：RECTANGULAR封装形式：SMALL OUTLINE
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED极性/信道类型：NPN
最大功率耗散 (Abs)：3 W认证状态：Not Qualified
子类别：Other Transistors表面贴装：YES
端子形式：FLAT端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED晶体管应用：SWITCHING
晶体管元件材料：SILICONBase Number Matches：1

TPCP8505 数据手册

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TPCP8505  
TOSHIBA Transistor Silicon NPN Epitaxial Type (PCT Process)  
TPCP8505  
High-Speed Switching Applications  
Unit: mm  
DC-DC Converter Applications  
0.33±0.05  
A
M
0.05  
5
8
•
•
•
High DC current gain: h  
= 400 to 1000 (I = 0.3 A)  
FE C  
Low collector-emitter saturation: V  
= 0.14 V (max)  
CE (sat)  
High-speed switching: t = 120 ns (typ.)  
f
0.475  
1
4
B
B
M
0.05  
0.65  
Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)  
2.9±0.1  
A
0.8±0.05  
Characteristic  
Collector-base voltage  
Symbol  
Rating  
Unit  
V
S
0.025  
+0.1  
S
0.28  
0.17±0.02  
-0.11  
V
100  
80  
50  
7
CBO  
V
+0.13  
-0.12  
CEX  
CEO  
EBO  
1.12  
1.12  
Collector-emitter voltage  
Emitter-base voltage  
Collector current  
V
V
A
V
V
+0.13  
-0.12  
+0.1  
0.28  
-0.11  
5.Emitter  
1.Collector  
2.Collector  
3.Collector  
4.Base  
DC (Note 1)  
I
3.0  
5.0  
C
6.Collector  
7.Collector  
8.Collector  
Pulse (Note 1)  
I
CP  
Base current  
I
0.3  
A
B
JEDEC  
―
―
t = 10s  
DC  
3.0  
1.25  
Collector power  
dissipation (t = 10 s)  
JEITA  
P
(Note 2)  
W
C
TOSHIBA  
2-3V1A  
Junction temperature  
T
150  
°C  
°C  
j
Weight: 0.017 g (typ.)  
Storage temperature range  
T
−55 to 150  
stg  
Note 1: Ensure that the junction temperature does not exceed 150°C during use of this device.  
Note 2: Mounted on an FR4 board (glass epoxy, 1.6 mm thick, Cu area: 645 mm2)  
Note 3: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high temperature/current/voltage and the  
significant change in temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly  
even if the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute  
maximum ratings.  
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook  
(“Handling Precautions”/Derating Concept and Methods) and individual reliability data (i.e. reliability test  
report and estimated failure rate, etc).  
1
2006-11-13  
12345

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