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| 生命周期： | Obsolete | 包装说明： | DFP, |
| Reach Compliance Code： | unknown | 风险等级： | 5.84 |
| 其他特性： | SCANNABLE | 系列： | LVT |
| JESD-30 代码： | R-GDFP-F56 | 长度： | 18.288 mm |
| 逻辑集成电路类型： | BOUNDARY SCAN BUS TRANSCEIVER | 位数： | 9 |
| 功能数量： | 2 | 端口数量： | 2 |
| 端子数量： | 56 | 最高工作温度： | 125 °C |
| 最低工作温度： | -55 °C | 输出特性： | 3-STATE |
| 输出极性： | INVERTED | 封装主体材料： | CERAMIC, GLASS-SEALED |
| 封装代码： | DFP | 封装形状： | RECTANGULAR |
| 封装形式： | FLATPACK | 最大电源电流（ICC）： | 30 mA |
| 认证状态： | Not Qualified | 座面最大高度： | 3.05 mm |
| 最大供电电压 (Vsup)： | 3.6 V | 最小供电电压 (Vsup)： | 2.7 V |
| 标称供电电压 (Vsup)： | 3.3 V | 表面贴装： | YES |
| 技术： | BICMOS | 温度等级： | MILITARY |
| 端子形式： | FLAT | 端子节距： | 0.635 mm |
| 端子位置： | DUAL | 宽度： | 9.652 mm |
| Base Number Matches： | 1 |
| 型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
| SN54LVTH18646A | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
|
| SN54LVTH18646A_08 | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES |
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| SN54LVTH18646AHV | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
|
| SN54LVTH18652A | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
|
| SN54LVTH18652AHV | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT TRANSCEIVERS AND REGISTERS |
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| SN54LVTH2245 | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN54LVTH2245_08 | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
|
| SN54LVTH2245FK | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN54LVTH2245J | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
|
| SN54LVTH2245W | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUS TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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