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AO3160

更新时间： 2022-05-17 23:07:55

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美国万代 - AOS		/
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描述
600V,0.04A N-Channel MOSFET

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AO3160 数据手册

AO3160

Gate Charge Test Circuit &Waveform

Vgss

Qgg

10V

VDC

Vdds

Qggd

VDCC

DUTT

Vgss

Igg

Chharge

Resistive Switching Test Circuit & Waveforms

Vdds

90%

10%

Vddd

DUUT

Vgss

VDCC

Rgg

Vgss

t _d(on)

t _d(off)

t _on

t_off

Unclamped Inductive Switching (UIS) Test Circuit & Waveforms

E_AR=1/2 LI

BV_DSS

Vds

Vgs

Vdd

I_AR

Vgs

VDC

DUT

Vgs

Diode RecoveryTestCircuit &Waveforms

Q_rr=- Idt

Vds +

Vds -

DUT

Vgs

Isd

t_rr

I_F

Isd

dI/dt

I_RM

Vdd

Vgs

VDC

Vdd

Vds

Rev1: April 2012

www.aosmd.com

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