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2SC3325-O(TE85L,F)

更新时间： 2024-11-30 20:44:27

品牌	Logo	应用领域
东芝 - TOSHIBA		开关光电二极管晶体管
页数	文件大小	规格书
4页	133K
描述
TRANSISTOR,BJT,NPN,50V V(BR)CEO,500MA I(C),SC-59

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2SC3325-O(TE85L,F) 技术参数

是否Rohs认证：	符合	生命周期：	Active
包装说明：	SMALL OUTLINE, R-PDSO-G3	Reach Compliance Code：	unknown
风险等级：	1.59	最大集电极电流 (IC)：	0.5 A
集电极-发射极最大电压：	50 V	配置：	SINGLE
最小直流电流增益 (hFE)：	25	JESD-30 代码：	R-PDSO-G3
元件数量：	1	端子数量：	3
最高工作温度：	150 °C	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	SMALL OUTLINE
极性/信道类型：	NPN	功耗环境最大值：	0.2 W
最大功率耗散 (Abs)：	0.2 W	子类别：	Other Transistors
表面贴装：	YES	端子形式：	GULL WING
端子位置：	DUAL	晶体管应用：	SWITCHING
晶体管元件材料：	SILICON	标称过渡频率 (fT)：	300 MHz
VCEsat-Max：	0.25 V	Base Number Matches：	1

2SC3325-O(TE85L,F) 数据手册

浏览型号2SC3325-O(TE85L,F)的Datasheet PDF文件第2页

2SC3325

TOSHIBA Transistor Silicon NPN Epitaxial Type (PCT process)

2SC3325

Audio Frequency Low Power Amplifier Applications

Unit: mm

Driver Stage Amplifier Applications

Switching Applications

•

Excellent h

linearity: h

= 25 (min) (V = 6 V, I = 400 mA)

CE C

FE (2)

High voltage: V

= 50 V (min)

CEO

Complementary to 2SA1313

Small package

Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)

Characteristics

Collector-base voltage

Symbol

Rating

Unit

CBO

CEO

EBO

Collector-emitter voltage

Emitter-base voltage

Collector current

500

°C

JEDEC

JEITA

TO-236MOD

Base current

Collector power dissipation

Junction temperature

Storage temperature range

200

150

−55~150

SC-59

TOSHIBA

2-3F1A

stg

Weight: 0.012 g (typ.)

Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high

temperature/current/voltage and the significant change in temperature, etc.) may cause this product to

decrease in the reliability significantly even if the operating conditions (i.e. operating

temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum ratings.

Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook

(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test

report and estimated failure rate, etc).

Marking

2007-11-01

12 3 4

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