是否无铅: | 不含铅 | 是否Rohs认证: | 符合 |
生命周期: | Obsolete | 包装说明: | TFBGA, BGA82,11X13,32 |
Reach Compliance Code: | compliant | 风险等级: | 5.84 |
访问模式: | MULTI BANK PAGE BURST | 最长访问时间: | 0.3 ns |
其他特性: | AUTO/SELF REFRESH | 最大时钟频率 (fCLK): | 533 MHz |
I/O 类型: | COMMON | 交错的突发长度: | 8 |
JESD-30 代码: | R-PBGA-B82 | JESD-609代码: | e1 |
长度: | 11 mm | 内存密度: | 1073741824 bit |
内存集成电路类型: | DDR DRAM | 内存宽度: | 8 |
湿度敏感等级: | 3 | 功能数量: | 1 |
端口数量: | 1 | 端子数量: | 82 |
字数: | 134217728 words | 字数代码: | 128000000 |
工作模式: | SYNCHRONOUS | 最高工作温度: | 85 °C |
最低工作温度: | 组织: | 128MX8 | |
输出特性: | 3-STATE | 封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY |
封装代码: | TFBGA | 封装等效代码: | BGA82,11X13,32 |
封装形状: | RECTANGULAR | 封装形式: | GRID ARRAY, THIN PROFILE, FINE PITCH |
峰值回流温度(摄氏度): | 260 | 电源: | 1.5 V |
认证状态: | Not Qualified | 刷新周期: | 8192 |
座面最大高度: | 1.2 mm | 自我刷新: | YES |
连续突发长度: | 8 | 子类别: | DRAMs |
最大压摆率: | 0.27 mA | 最大供电电压 (Vsup): | 1.575 V |
最小供电电压 (Vsup): | 1.425 V | 标称供电电压 (Vsup): | 1.5 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
温度等级: | OTHER | 端子面层: | Tin/Silver/Copper (Sn/Ag/Cu) |
端子形式: | BALL | 端子节距: | 0.8 mm |
端子位置: | BOTTOM | 处于峰值回流温度下的最长时间: | NOT SPECIFIED |
宽度: | 9 mm | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4B1G0846D-HCF80 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.3ns, CMOS, PBGA82, ROHS COMPLIANT, FBGA-82 | |
K4B1G0846D-HCH9 | SAMSUNG |
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1Gb D-die DDR3 SDRAM Specification | |
K4B1G0846D-HCH90 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.255ns, CMOS, PBGA82, ROHS COMPLIANT, FBGA-82 | |
K4B1G0846E | SAMSUNG |
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DDR3 SDRAM Memory | |
K4B1G0846E-HCF8 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.15ns, CMOS, PBGA78, | |
K4B1G0846E-HCK0 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.1ns, CMOS, PBGA78, | |
K4B1G0846F | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR3 SDRAM Memory | |
K4B1G0846F-HCF8 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.3ns, CMOS, PBGA78, | |
K4B1G0846F-HCF8T | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.3ns, CMOS, PBGA78, | |
K4B1G0846F-HCH9 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.255ns, CMOS, PBGA78, |