是否无铅: | 不含铅 | 是否Rohs认证: | 符合 |
生命周期: | Obsolete | 包装说明: | FBGA, BGA78,9X13,32 |
Reach Compliance Code: | compliant | 风险等级: | 5.82 |
最长访问时间: | 0.255 ns | 最大时钟频率 (fCLK): | 667 MHz |
I/O 类型: | COMMON | 交错的突发长度: | 4,8 |
JESD-30 代码: | R-PBGA-B78 | JESD-609代码: | e1 |
内存密度: | 1073741824 bit | 内存集成电路类型: | DDR DRAM |
内存宽度: | 8 | 湿度敏感等级: | 3 |
端子数量: | 78 | 字数: | 134217728 words |
字数代码: | 128000000 | 组织: | 128MX8 |
输出特性: | 3-STATE | 封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY |
封装代码: | FBGA | 封装等效代码: | BGA78,9X13,32 |
封装形状: | RECTANGULAR | 封装形式: | GRID ARRAY, FINE PITCH |
峰值回流温度(摄氏度): | 225 | 电源: | 1.5 V |
认证状态: | Not Qualified | 刷新周期: | 8192 |
连续突发长度: | 4,8 | 子类别: | DRAMs |
最大压摆率: | 0.13 mA | 标称供电电压 (Vsup): | 1.5 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
端子面层: | Tin/Silver/Copper (Sn/Ag/Cu) | 端子形式: | BALL |
端子节距: | 0.8 mm | 端子位置: | BOTTOM |
处于峰值回流温度下的最长时间: | NOT SPECIFIED | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4B1G0846G-BCH9000 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.255ns, CMOS, PBGA78 | |
K4B1G0846G-BCK0 | SAMSUNG |
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1Gb G-die DDR3 SDRAM | |
K4B1G0846G-BCK00 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.225ns, CMOS, PBGA78, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-78 | |
K4B1G0846G-BCK0T | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.225ns, CMOS, PBGA78, | |
K4B1G0846G-BCMA | SAMSUNG |
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1Gb G-die DDR3 SDRAM | |
K4B1G0846G-BCMA0 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.195ns, CMOS, PBGA78, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-78 | |
K4B1G0846G-BCMAT | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.195ns, CMOS, PBGA78 | |
K4B1G1646C-CF8 | SAMSUNG |
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1Gb C-die DDR3 SDRAM Specification | |
K4B1G1646C-ZCF7 | SAMSUNG |
获取价格 |
1Gb C-die DDR3 SDRAM Specification | |
K4B1G1646C-ZCG9 | SAMSUNG |
获取价格 |
1Gb C-die DDR3 SDRAM Specification |