是否无铅: | 不含铅 | 是否Rohs认证: | 符合 |
生命周期: | Obsolete | Reach Compliance Code: | unknown |
风险等级: | 5.79 | 最长访问时间: | 0.125 ns |
最大时钟频率 (fCLK): | 667 MHz | I/O 类型: | COMMON |
交错的突发长度: | 4,8 | JESD-30 代码: | R-PBGA-B96 |
JESD-609代码: | e1 | 内存密度: | 1073741824 bit |
内存集成电路类型: | DDR DRAM | 内存宽度: | 16 |
湿度敏感等级: | 3 | 端子数量: | 96 |
字数: | 67108864 words | 字数代码: | 64000000 |
组织: | 64MX16 | 输出特性: | 3-STATE |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | FBGA |
封装等效代码: | BGA96,9X16,32 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | GRID ARRAY, FINE PITCH | 峰值回流温度(摄氏度): | 260 |
电源: | 1.5 V | 认证状态: | Not Qualified |
刷新周期: | 8192 | 连续突发长度: | 4,8 |
最大待机电流: | 0.01 A | 子类别: | DRAMs |
最大压摆率: | 0.24 mA | 标称供电电压 (Vsup): | 1.5 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
端子面层: | Tin/Silver/Copper (Sn/Ag/Cu) | 端子形式: | BALL |
端子节距: | 0.8 mm | 端子位置: | BOTTOM |
处于峰值回流温度下的最长时间: | NOT SPECIFIED | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4B1G1646E-HCK0 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, 0.1ns, CMOS, PBGA96, | |
K4B1G1646G-BCF8 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, 0.3ns, CMOS, PBGA96 | |
K4B1G1646G-BCF8000 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, CMOS, PBGA96, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-96 | |
K4B1G1646G-BCF8T | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, 0.3ns, CMOS, PBGA96 | |
K4B1G1646G-BCH9 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, 0.255ns, CMOS, PBGA96 | |
K4B1G1646G-BCH90 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 64MX16, 0.255ns, CMOS, PBGA96, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-96 | |
K4B1G1646G-BCH9T | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 64MX16, 0.255ns, CMOS, PBGA96 | |
K4B1G1646G-BCK0 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 64MX16, 0.225ns, CMOS, PBGA96 | |
K4B1G1646G-BCMA | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 64MX16, 0.195ns, CMOS, PBGA96 | |
K4B1G1646G-BCMAT | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 64MX16, 0.195ns, CMOS, PBGA96 |