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IS41C4100-35J

更新时间: 2024-01-13 17:34:16
品牌 Logo 应用领域
美国芯成 - ISSI 存储内存集成电路光电二极管动态存储器
页数 文件大小 规格书
19页 145K
描述
1Meg x 4 (4-MBIT) DYNAMIC RAM WITH EDO PAGE MODE

IS41C4100-35J 技术参数

是否Rohs认证: 不符合生命周期:Transferred
包装说明:TSOP, TSOP20/26,.36Reach Compliance Code:unknown
风险等级:5.83最长访问时间:35 ns
I/O 类型:COMMONJESD-30 代码:R-PDSO-G20
JESD-609代码:e0内存密度:4194304 bit
内存集成电路类型:EDO DRAM内存宽度:4
端子数量:20字数:1048576 words
字数代码:1000000最高工作温度:70 °C
最低工作温度:组织:1MX4
输出特性:3-STATE封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装代码:TSOP封装等效代码:TSOP20/26,.36
封装形状:RECTANGULAR封装形式:SMALL OUTLINE, THIN PROFILE
电源:5 V认证状态:Not Qualified
刷新周期:1024自我刷新:NO
最大待机电流:0.001 A子类别:DRAMs
最大压摆率:0.11 mA标称供电电压 (Vsup):5 V
表面贴装:YES技术:CMOS
温度等级:COMMERCIAL端子面层:Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式:GULL WING端子节距:1.27 mm
端子位置:DUALBase Number Matches:1

IS41C4100-35J 数据手册

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IS41C4100  
IS41LV4100  
®
ISSI  
EDO-PAGE-MODE READ-WRITE CYCLE (LATE WRITE and READ-MODIFY WRITE Cycles)  
t
RASP  
t
RP  
RAS  
CAS  
(1)  
tPC / tPRWC  
t
CSH  
t
RSH  
CLCH  
t
CRP  
t
RCD  
t
CAS,  
t
CLCH  
t
CP  
t
CAS,  
t
CLCH  
t
CP  
t
CAS,  
t
tCP  
t
AR  
t
ASR  
t
t
RAD  
t
RAL  
t
ASC  
t
CAH  
t
ASC  
t
CAH  
t
ASC  
tCAH  
RAH  
ADDRESS  
Row  
Column  
Column  
Column  
Row  
tRWD  
tRCS  
t
t
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RWL  
CWL  
WP  
t
t
CWL  
WP  
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t
CWL  
WP  
t
AWD  
t
AWD  
t
AWD  
t
CWD  
t
CWD  
t
CWD  
WE  
t
AA  
t
AA  
CPA  
t
AA  
tCPA  
t
t
RAC  
t
DH  
DS  
t
DH  
DS  
t
DH  
tDS  
t
t
t
CAC  
t
CAC  
t
CAC  
t
CLZ  
t
CLZ  
t
CLZ  
Open  
Open  
I/O  
DOUT  
DIN  
DOUT  
DIN  
DOUT  
DIN  
t
OD  
t
OD  
t
OD  
t
OE  
t
OE  
tOE  
t
OEH  
OE  
Don't Care  
Note:  
1. tPC can be measured from falling edge of CAS to falling edge of CAS, or from rising edge of CAS to rising edge of CAS. Both  
measurements must meet the tPC specifications.  
Integrated Silicon Solution, Inc. — 1-800-379-4774  
PRELIMINARY INFORMATION Rev. 00A  
15  
09/10/01  

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