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FQU6P25TU

更新时间: 2024-01-20 19:31:41
品牌 Logo 应用领域
飞兆/仙童 - FAIRCHILD /
页数 文件大小 规格书
9页 512K
描述
Power Field-Effect Transistor, 4.7A I(D), 250V, 1.1ohm, 1-Element, P-Channel, Silicon, Metal-oxide Semiconductor FET, TO-251, IPAK-3

FQU6P25TU 技术参数

是否Rohs认证: 符合生命周期:Obsolete
零件包装代码:TO-251包装说明:IPAK-3
针数:3Reach Compliance Code:not_compliant
ECCN代码:EAR99风险等级:5.7
雪崩能效等级(Eas):540 mJ配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE
最小漏源击穿电压:250 V最大漏极电流 (Abs) (ID):4.7 A
最大漏极电流 (ID):4.7 A最大漏源导通电阻:1.1 Ω
FET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTORJEDEC-95代码:TO-251
JESD-30 代码:R-PSIP-T3JESD-609代码:e3
元件数量:1端子数量:3
工作模式:ENHANCEMENT MODE最高工作温度:150 °C
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装形状:RECTANGULAR
封装形式:IN-LINE峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
极性/信道类型:P-CHANNEL最大功率耗散 (Abs):55 W
最大脉冲漏极电流 (IDM):18.8 A认证状态:Not Qualified
子类别:Other Transistors表面贴装:NO
端子面层:Matte Tin (Sn)端子形式:THROUGH-HOLE
端子位置:SINGLE处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
晶体管应用:SWITCHING晶体管元件材料:SILICON
Base Number Matches:1

FQU6P25TU 数据手册

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Peak Diode Recovery dv/dt Test Circuit & Waveforms  
+
VDS  
DUT  
_
I SD  
L
Driver  
RG  
Compliment of DUT  
(N-Channel)  
VDD  
VGS  
• dv/dt controlled by RG  
• ISD controlled by pulse period  
Gate Pulse Width  
--------------------------  
VGS  
D =  
Gate Pulse Period  
10V  
( Driver )  
Body Diode Reverse Current  
IRM  
I SD  
( DUT )  
di/dt  
IFM , Body Diode Forward Current  
VSD  
VDS  
( DUT )  
Body Diode  
VDD  
Forward Voltage Drop  
Body Diode Recovery dv/dt  
©2000 Fairchild Semiconductor International  
Rev. A, April 2000  

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