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| 生命周期： | Obsolete | 包装说明： | DIP, |
| Reach Compliance Code： | unknown | 风险等级： | 5.84 |
| 系列： | ABT | JESD-30 代码： | R-GDIP-T24 |
| 长度： | 32.005 mm | 逻辑集成电路类型： | BOUNDARY SCAN BUS DRIVER |
| 位数： | 4 | 功能数量： | 2 |
| 端口数量： | 2 | 端子数量： | 24 |
| 最高工作温度： | 125 °C | 最低工作温度： | -55 °C |
| 输出特性： | 3-STATE | 输出极性： | INVERTED |
| 封装主体材料： | CERAMIC, GLASS-SEALED | 封装代码： | DIP |
| 封装形状： | RECTANGULAR | 封装形式： | IN-LINE |
| 最大电源电流（ICC）： | 30 mA | 认证状态： | Not Qualified |
| 座面最大高度： | 5.08 mm | 最大供电电压 (Vsup)： | 5.5 V |
| 最小供电电压 (Vsup)： | 4.5 V | 标称供电电压 (Vsup)： | 5 V |
| 表面贴装： | NO | 技术： | BICMOS |
| 温度等级： | MILITARY | 端子形式： | THROUGH-HOLE |
| 端子节距： | 2.54 mm | 端子位置： | DUAL |
| 宽度： | 7.62 mm | Base Number Matches： | 1 |
| 型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
| SN54ABT8245 | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
|
| SN54ABT8245_06 | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SN54ABT8245_07 | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
|
| SN54ABT8245_08 | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
|
| SN54ABT8245FK | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SN54ABT8245JT | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SN54ABT827 | TI |
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10-BIT BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN54ABT827_16 | TI |
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10-BIT BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN54ABT827FK | TI |
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10-BIT BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| SN54ABT827JT | TI |
获取价格 |
10-BIT BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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