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IRF3709STRR

更新时间： 2022-09-29 19:43:23

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描述
MOSFET N-CH 30V 90A D2PAK

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IRF3709STRR 数据手册

IRF3709/3709S/3709L

Peak Diode Recovery dv/dt Test Circuit

Circuit Layout Considerations

• Low Stray Inductance

• Ground Plane

• Low Leakage Inductance

Current Transformer

D.U.T

R_G

• dv/dt controlled by R_G

• Driver same type as D.U.T.

• I_SDcontrolled by Duty Factor "D"

• D.U.T. - Device Under Test

V_DD

Driver Gate Drive

P.W.

Period

D =

=10V

D.U.T. I Waveform

Reverse

Recovery

Current

Body Diode Forward

Current

di/dt

D.U.T. V Waveform

Diode Recovery

dv/dt

Re-Applied

Voltage

Body Diode

Forward Drop

Inductor Curent

Ripple ≤ 5%

* V_GS= 5V for Logic Level Devices

Fig 14. For N-Channel HEXFET^®Power MOSFETs

www.irf.com

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