是否无铅: | 含铅 | 是否Rohs认证: | 不符合 |
生命周期: | Obsolete | 零件包装代码: | TSOP2 |
包装说明: | TSSOP, | 针数: | 66 |
Reach Compliance Code: | compliant | ECCN代码: | EAR99 |
HTS代码: | 8542.32.00.24 | 风险等级: | 5.11 |
访问模式: | FOUR BANK PAGE BURST | 最长访问时间: | 0.75 ns |
其他特性: | AUTO/SELF REFRESH | JESD-30 代码: | R-PDSO-G66 |
JESD-609代码: | e0 | 长度: | 22.22 mm |
内存密度: | 268435456 bit | 内存集成电路类型: | DDR DRAM |
内存宽度: | 8 | 功能数量: | 1 |
端口数量: | 1 | 端子数量: | 66 |
字数: | 33554432 words | 字数代码: | 32000000 |
工作模式: | SYNCHRONOUS | 最高工作温度: | 70 °C |
最低工作温度: | 组织: | 32MX8 | |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | TSSOP |
封装形状: | RECTANGULAR | 封装形式: | SMALL OUTLINE, THIN PROFILE, SHRINK PITCH |
峰值回流温度(摄氏度): | 240 | 认证状态: | Not Qualified |
座面最大高度: | 1.2 mm | 自我刷新: | YES |
最大供电电压 (Vsup): | 2.7 V | 最小供电电压 (Vsup): | 2.3 V |
标称供电电压 (Vsup): | 2.5 V | 表面贴装: | YES |
技术: | CMOS | 温度等级: | COMMERCIAL |
端子面层: | Tin/Lead (Sn/Pb) | 端子形式: | GULL WING |
端子节距: | 0.65 mm | 端子位置: | DUAL |
处于峰值回流温度下的最长时间: | 30 | 宽度: | 10.16 mm |
Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4H560838E-TLB0 | SAMSUNG |
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128Mb DDR SDRAM | |
K4H560838E-TLB00 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 32MX8, 0.75ns, CMOS, PDSO66, 0.400 X 0.875 INCH, 0.65 MM PITCH, TSOP2-66 | |
K4H560838E-TLB0T | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 32MX8, 0.75ns, CMOS, PDSO66 | |
K4H560838E-TLB3 | SAMSUNG |
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256Mb E-die DDR SDRAM Specification 66 TSOP-II | |
K4H560838E-TLB3T | SAMSUNG |
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暂无描述 | |
K4H560838E-TLCC0 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 32MX8, 0.65ns, CMOS, PDSO66, 0.400 X 0.875 INCH, 0.65 MM PITCH, TSOP2-66 | |
K4H560838E-TLCCT | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 32MX8, 0.65ns, CMOS, PDSO66 | |
K4H560838E-UC/LA2 | SAMSUNG |
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256Mb E-die DDR SDRAM Specification 66 TSOP-II with Pb-Free (RoHS compliant) | |
K4H560838E-UC/LAA | SAMSUNG |
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256Mb E-die DDR SDRAM Specification 66 TSOP-II with Pb-Free (RoHS compliant) | |
K4H560838E-UC/LB0 | SAMSUNG |
获取价格 |
256Mb E-die DDR SDRAM Specification 66 TSOP-II with Pb-Free (RoHS compliant) |