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IRFHS8242TR2PBF

更新时间: 2024-01-15 08:35:05
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9页 266K
描述
HEXFET Power MOSFET

IRFHS8242TR2PBF 技术参数

是否无铅: 不含铅是否Rohs认证: 符合
生命周期:Obsolete零件包装代码:QFN
包装说明:2 X 2 MM, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, PLASTIC, QFN-6针数:6
Reach Compliance Code:compliantECCN代码:EAR99
风险等级:5.34外壳连接:DRAIN
配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE最小漏源击穿电压:25 V
最大漏极电流 (Abs) (ID):8.5 A最大漏极电流 (ID):9.9 A
最大漏源导通电阻:0.013 ΩFET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码:S-PDSO-N6JESD-609代码:e3
湿度敏感等级:1元件数量:1
端子数量:6工作模式:ENHANCEMENT MODE
最高工作温度:150 °C封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装形状:SQUARE封装形式:SMALL OUTLINE
峰值回流温度(摄氏度):260极性/信道类型:N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs):2.1 W最大脉冲漏极电流 (IDM):84 A
认证状态:Not Qualified子类别:FET General Purpose Power
表面贴装:YES端子面层:MATTE TIN
端子形式:NO LEAD端子位置:DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间:40晶体管应用:SWITCHING
晶体管元件材料:SILICONBase Number Matches:1

IRFHS8242TR2PBF 数据手册

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IRFHS8242PbF  
Id  
Vds  
Vgs  
L
VCC  
DUT  
0
Vgs(th)  
1K  
Qgs1  
Qgs2  
Qgd  
Qgodr  
Fig 16b. Gate Charge Waveform  
Fig 16a. Gate Charge Test Circuit  
RD  
VDS  
VDS  
90%  
VGS  
D.U.T.  
RG  
+VDD  
-
10%  
VGS  
VGS  
PulseWidth ≤ 1 µs  
DutyFactor≤ 0.1  
td(on)  
td(off)  
tr  
tf  
Fig 17a. Switching Time Test Circuit  
Fig 17b. Switching Time Waveforms  
6
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