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2SJ496

更新时间: 2024-02-06 04:12:10
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瑞萨 - RENESAS 晶体小信号场效应晶体管
页数 文件大小 规格书
8页 87K
描述
Silicon P Channel MOS FET

2SJ496 技术参数

是否无铅: 不含铅是否Rohs认证: 符合
生命周期:Not Recommended零件包装代码:TO-92 Mod
包装说明:CYLINDRICAL, O-PBCY-T3针数:3
Reach Compliance Code:compliantECCN代码:EAR99
HTS代码:8541.21.00.95风险等级:5.25
配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE最小漏源击穿电压:60 V
最大漏极电流 (Abs) (ID):5 A最大漏极电流 (ID):5 A
最大漏源导通电阻:0.24 ΩFET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JESD-30 代码:O-PBCY-T3JESD-609代码:e2
湿度敏感等级:1元件数量:1
端子数量:3工作模式:ENHANCEMENT MODE
最高工作温度:150 °C封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装形状:ROUND封装形式:CYLINDRICAL
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED极性/信道类型:P-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs):0.9 W认证状态:Not Qualified
子类别:Other Transistors表面贴装:NO
端子面层:TIN COPPER端子形式:THROUGH-HOLE
端子位置:BOTTOM处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
晶体管应用:SWITCHING晶体管元件材料:SILICON
Base Number Matches:1

2SJ496 数据手册

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2SJ496  
Reverse Drain Current vs.  
Source to Drain Voltage  
Maximum Avalanche Energy vs.  
Channel Temperature Derating  
–10  
–8  
–6  
–4  
–2  
0
2.5  
2.0  
1.5  
1.0  
0.5  
0
IAP = –5 A  
VDD = –25 V  
duty < 0.1 %  
Rg 50 Ω  
–10 V  
–5 V  
VGS = 0, 5 V  
Pulse Test  
–1.2 –1.6 –2.0  
0
–0.4  
–0.8  
25  
50  
75  
100  
125  
150  
Source to Drain Voltage VSD (V)  
Channel Temperature Tch (°C)  
Normalized Transient Thermal Impedance vs. Pulse Width  
Ta = 25°C  
3
1
D = 1  
0.5  
0.3  
0.1  
0.2  
0.1  
0.05  
0.02  
0.01  
0.03  
0.01  
θch – a (t) = γ s (t) • θch – a  
θch – a = 139°C/W, Ta = 25°C  
PW  
D =  
PDM  
T
PW  
T
0.003  
0.001  
0.00001  
0.0001  
0.001  
0.01  
0.1  
1
10  
100  
1000  
10000  
Pulse Width PW (S)  
Avalanche Test Circuit  
Avalanche Waveform  
VDSS  
VDSS – VDD  
1
2
2
L
EAR  
=
• L • IAP •  
VDS  
Monitor  
IAP  
Monitor  
V(BR)DSS  
IAP  
Rg  
VDD  
D.U.T  
VDS  
ID  
Vin  
15 V  
50 Ω  
VDD  
0
Rev.3.00 Sep 07, 2005 page 5 of 7  

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