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2SA1313OTE85R

更新时间： 2024-09-19 20:50:11
品牌 Logo 应用领域
东芝 - TOSHIBA 开关光电二极管晶体管
页数 文件大小 规格书
4页 187K
描述
TRANSISTOR 500 mA, 50 V, PNP, Si, SMALL SIGNAL TRANSISTOR, TO-236, BIP General Purpose Small Signal

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2SA1313OTE85R 技术参数

生命周期：Obsolete包装说明：SMALL OUTLINE, R-PDSO-G3
Reach Compliance Code：unknownECCN代码：EAR99
HTS代码：8541.21.00.75风险等级：5.72
Is Samacsys：N最大集电极电流 (IC)：0.5 A
集电极-发射极最大电压：50 V配置：SINGLE
最小直流电流增益 (hFE)：25JEDEC-95代码：TO-236
JESD-30 代码：R-PDSO-G3元件数量：1
端子数量：3最高工作温度：150 °C
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装形状：RECTANGULAR
封装形式：SMALL OUTLINE极性/信道类型：PNP
认证状态：Not Qualified表面贴装：YES
端子形式：GULL WING端子位置：DUAL
晶体管应用：SWITCHING晶体管元件材料：SILICON
标称过渡频率 (fT)：200 MHzVCEsat-Max：0.25 V
Base Number Matches：1

2SA1313OTE85R 数据手册

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2SA1313  
TOSHIBA Transistor Silicon PNP Epitaxial Type (PCT process)  
2SA1313  
Audio Frequency Low Power Amplifier Applications  
Unit: mm  
Driver Stage Amplifier Applications  
Switching Applications  
•
Excellent h  
linearity: h  
= 25 (min)  
FE (2)  
FE  
at V  
= −6 V, I = −400 mA  
C
CE  
•
•
•
High voltage: V  
= −50 V (min)  
CEO  
Complementary to 2SC3325  
Small package  
Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)  
Characteristics  
Collector-base voltage  
Symbol  
Rating  
Unit  
V
CBO  
V
CEO  
V
EBO  
−50  
−50  
V
V
Collector-emitter voltage  
Emitter-base voltage  
Collector current  
−5  
V
JEDEC  
JEITA  
TO-236MOD  
I
−500  
−50  
mA  
mA  
mW  
°C  
°C  
C
SC-59  
Base current  
I
B
Collector power dissipation  
Junction temperature  
Storage temperature range  
P
200  
TOSHIBA  
2-3F1A  
C
T
j
150  
Weight: 0.012 g (typ.)  
T
stg  
−55~150  
Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high temperature/current/voltage and the  
significant change in temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly even  
if the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum  
ratings.  
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook  
(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test  
report and estimated failure rate, etc).  
Marking  
1
2007-11-01  
1234

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