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TLV3012AQDCKRQ1

更新时间： 2024-09-16 12:47:11
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德州仪器 - TI 比较器
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17页 504K
描述
NANOPOWER 1.8-V COMPARATOR WITH VOLTAGE REFERENCE

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TLV3012AQDCKRQ1 数据手册

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TLV3011-Q1  
TLV3012A-Q1  
www.ti.com  
SBOS551 –MARCH 2011  
NANOPOWER 1.8-V COMPARATOR WITH VOLTAGE REFERENCE  
Check for Samples: TLV3012A-Q1  
1
FEATURES  
DESCRIPTION  
2
•
•
•
•
Qualified for Automotive Applications  
Low Quiescent Current = 5 μA (Max)  
Integrated Voltage Reference = 1.242 V  
The TLV3011-Q1 is a low-power, open-drain output  
comparator. The TLV3012A-Q1 is a push-pull output  
comparator. Both feature an uncommitted on-chip  
voltage reference, have 5-μA (max) quiescent  
current, input common-mode range 200 mV beyond  
the supply rails, and single-supply operation from  
1.8 V to 5.5 V. The integrated 1.242-V series voltage  
reference offers low 100-ppm/°C (max) drift, is stable  
with up to 10-nF capacitive load, and can provide up  
to 0.5 mA (typ) of output current.  
Input Common-Mode Range = 200 mV Beyond  
Rails  
•
•
Voltage Reference Initial Accuracy = 1%  
Open-Drain Logic Compatible Output  
(TLV3011-Q1)  
•
•
•
Push-Pull Output (TLV3012A-Q1)  
Low Supply Voltage = 1.8 V to 5.5 V  
The TLV3012A-Q1 is available in the SC-70 package.  
The devices are specified for the temperature range  
of –40°C to 125°C.  
Fast Response Time = 6-μs Propagation Delay  
With 100-mV Overdrive  
(TLV3011-Q1: RPULL-UP = 10 kΩ)  
DCK PACKAGE  
(TOP VIEW)  
APPLICATIONS  
OUT  
V
1
2
3
6
5
4
V+  
•
•
•
•
Battery-Powered Level Detection  
Data Acquisition  
REF  
IN-  
System Monitoring  
Oscillators  
IN+  
1
Please be aware that an important notice concerning availability, standard warranty, and use in critical applications of Texas  
Instruments semiconductor products and disclaimers thereto appears at the end of this data sheet.  
2
All trademarks are the property of their respective owners.  
PRODUCTION DATA information is current as of publication date.  
Products conform to specifications per the terms of the Texas  
Instruments standard warranty. Production processing does not  
necessarily include testing of all parameters.  
Copyright © 2011, Texas Instruments Incorporated  
1234567...17

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