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| 生命周期： | Obsolete | 包装说明： | QFF, |
| Reach Compliance Code： | unknown | 风险等级： | 5.84 |
| 其他特性： | SCANNABLE; A-PORT WITHOUT SERIES RESISTOR | 系列： | LVT |
| JESD-30 代码： | S-GQFP-F68 | 长度： | 12.51 mm |
| 逻辑集成电路类型： | BOUNDARY SCAN REG BUS TRANSCEIVER | 位数： | 9 |
| 功能数量： | 2 | 端口数量： | 2 |
| 端子数量： | 68 | 最高工作温度： | 125 °C |
| 最低工作温度： | -55 °C | 输出特性： | 3-STATE WITH SERIES RESISTOR |
| 输出极性： | TRUE | 封装主体材料： | CERAMIC, GLASS-SEALED |
| 封装代码： | QFF | 封装形状： | SQUARE |
| 封装形式： | FLATPACK | 最大电源电流（ICC）： | 35 mA |
| 认证状态： | Not Qualified | 座面最大高度： | 3.86 mm |
| 最大供电电压 (Vsup)： | 3.6 V | 最小供电电压 (Vsup)： | 2.7 V |
| 标称供电电压 (Vsup)： | 3.3 V | 表面贴装： | YES |
| 技术： | BICMOS | 温度等级： | MILITARY |
| 端子形式： | FLAT | 端子节距： | 0.635 mm |
| 端子位置： | QUAD | 宽度： | 12.51 mm |
| Base Number Matches： | 1 |
| 型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
| SN54LVT18502 | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS |
|
| SN54LVT18502_08 | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS |
|
| SN54LVT18502HV | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICE WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS |
|
| SN54LVT18504HV | TI |
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LVT SERIES, 20-BIT BOUNDARY SCAN REG TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, CQFP68 |
|
| SN54LVT18512 | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SN54LVT18512HKC | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS |
|
| SN54LVT240A | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
|
| SN54LVT240AFK | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
|
| SN54LVT240AJ | TI |
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3.3-V ABT OCTAL BUFFERS/DRIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
|
| SN54LVT243FK | TI |
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LVT SERIES, 4-BIT TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, CQCC20 |
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