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SN54HC191TDE2

更新时间: 2024-09-16 11:14:55
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德州仪器 - TI 逻辑集成电路触发器计数器
页数 文件大小 规格书
6页 416K
描述
4 位同步加/减二进制计数器 | TD | 0 | 25 to 25

SN54HC191TDE2 技术参数

生命周期:Active包装说明:DIE,
Reach Compliance Code:not_compliantHTS代码:8542.39.00.01
风险等级:5.74计数方向:BIDIRECTIONAL
系列:HC/UHJESD-30 代码:R-XUUC-N16
负载电容(CL):50 pF负载/预设输入:YES
逻辑集成电路类型:BINARY COUNTER最大频率@ Nom-Sup:14000000 Hz
最大I(ol):0.0052 A工作模式:SYNCHRONOUS
位数:4功能数量:1
端子数量:16封装主体材料:UNSPECIFIED
封装代码:DIE封装形状:RECTANGULAR
封装形式:UNCASED CHIP包装方法:TUBE
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED最大电源电流(ICC):0.08 mA
Prop。Delay @ Nom-Sup:58 ns表面贴装:YES
技术:CMOS端子形式:NO LEAD
端子位置:UPPER处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
触发器类型:POSITIVE EDGEBase Number Matches:1

SN54HC191TDE2 数据手册

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SN54HC191-DIE  
ZHCSC96 MARCH 2014  
SN54HC191-DIE 4 位同步加/减二进制计数器  
1
1 特性  
宽工作电压范围  
这些计数器特有一个完全独立的时钟电路。 改变运行  
模式的控制(CTEN D/U)输入上的变化对于计数  
器在计时发生前的内容没有影响。 计数器的功能只能  
由符合稳定设置和保持时间要求的条件控制。  
低功耗  
低输入电流  
单条加/减计数控制线路  
前瞻电路提高了级联计数器的速度  
计数模式下的完全同步  
异步可预先设定的负载控制  
这些计数器是完全可编程的;也就是说,通过在负载  
(LOAD) 输入上放置一个低电平,并且在数据输入上敲  
入所需的数据可将每个输出预先设定为其中任一电平。  
输出变化为与数据输入一致,而这一变化与 CLK 电平  
无关。 这个特性使这些计数器可被用作模块化 N 驱动  
器,只需用预先设定的输入修改计数长度。  
2 说明  
SN54HC191-DIE 是一款 4 位同步,可逆的,加/减二  
进制计数器。 通过使所有触发电路同时计时来提供同  
步计数运行,这样,当控制计数方向的逻辑电路发出指  
令时,输出变化相互间保持一致。 这个运行模式消除  
了通常与异步(纹波时钟)计数器相关的输出计数尖  
峰。  
可提供两个输出来执行级联功能:纹波时钟 (RCO) 和  
最大/最小 (MAX/MIN) 计数。 在计数为零(所有输出  
低电平)下计数,或者最大(9 15)上计数  
时,MAX/MIN 产生一个持续时间大致等于一个完整时  
钟周期的高电平输出脉冲。 RCO 在同样的条件下产生  
一个低电平输出脉冲,但仅限于 CLK 为低位的情况  
下。 如果使用并行计时,可通过将 RCO 馈入随后计  
数器的 CTEN 来轻松实现计数器级联,或者在使用并  
行启用时馈入 CLK 来实现计数器级联。 MAX/MIN 可  
为高速运行提供前瞻性。  
如果计数-使能 (CTEN) 输入为低位,四个触发电路的  
输出在时钟 (CLK) 输入从低电平向高电平转换时触  
发。 CTEN 位于高位时禁止计数操作。 计数的方向由  
向下/向上 (D/U) 输入的电平决定。 当 D/U 为低位时,  
计数器作加计数,而当 D/U 为高位时,计数器作减计  
数。  
Ordering Information(1)  
PACKAGE  
DESIGNATOR  
PRODUCT  
PACKAGE  
ORDERABLE PART NUMBER  
PACKAGE QUANTITY  
SN54HC191TDE1  
SN54HC191TDE2  
154  
10  
SN54HC191  
TD  
Bare die in waffle pack(2)  
(1) For the most current package and ordering information, see the Package Option Addendum at the end of this document, or see the TI  
web site at www.ti.com.  
(2) Processing is per the Texas Instruments space production baseline and is in compliance with the Texas Instruments Quality Control  
System in effect at the time of manufacture. Electrical screening consists of DC parametric and functional testing at room temperature  
only. Unless otherwise specified by Texas Instruments AC performance and performance over temperature is not warranted. Visual  
Inspection is performed in accordance with MIL-STD-883 Test Method 2010 Condition B at 75X minimum.  
1
An IMPORTANT NOTICE at the end of this data sheet addresses availability, warranty, changes, use in safety-critical applications,  
intellectual property matters and other important disclaimers. PRODUCTION DATA.  
English Data Sheet: SCLS748  

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