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NAND256W4M2AZC5E PDF预览

NAND256W4M2AZC5E

更新时间： 2024-10-26 03:20:07
品牌 Logo 应用领域
意法半导体 - STMICROELECTRONICS 闪存存储内存集成电路动态存储器
页数 文件大小 规格书
23页 229K
描述
256/512Mb/1Gb (x8/x16, 1.8/3V, 528 Byte Page) NAND Flash Memories + 256/512Mb (x16/x32, 1.8V) LPSDRAM, MCP

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NAND256W4M2AZC5E 技术参数

是否Rohs认证：符合生命周期：Obsolete
Reach Compliance Code：unknown风险等级：5.84
Is Samacsys：NJESD-30 代码：R-PBGA-B137
内存集成电路类型：MEMORY CIRCUIT混合内存类型：FLASH+SDRAM
端子数量：137最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-30 °C封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：FBGA封装等效代码：BGA137,10X15,32
封装形状：RECTANGULAR封装形式：GRID ARRAY, FINE PITCH
电源：3 V认证状态：Not Qualified
子类别：Other Memory ICs标称供电电压 (Vsup)：3 V
表面贴装：YES温度等级：OTHER
端子形式：BALL端子节距：0.8 mm
端子位置：BOTTOMBase Number Matches：1

NAND256W4M2AZC5E 数据手册

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NAND256-M  
NAND512-M, NAND01G-M  
256/512Mb/1Gb (x8/x16, 1.8/3V, 528 Byte Page) NAND  
Flash Memories + 256/512Mb (x16/x32, 1.8V) LPSDRAM, MCP  
Features  
■ Multi-Chip Packages  
FBGA  
– 1 die of 256 Mb, 512 Mb (x8/ x16) NAND  
Flash + 1 die of 256 Mb (x16) SDR  
LPSDRAM  
– 1 die of 256 Mb, 512 Mb (x8/ x16) NAND  
Flash + 2 dice of 256 Mb (x16) SDR  
LPSDRAMs  
TFBGA107 10.5 x 13 x 1.2mm  
TFBGA149 10 x 13.5 x 1.2mm  
LFBGA137 10.5 x 13 x 1.4mm  
TFBGA137 10.5 x 13 x 1.2 mm(1)  
– 1 die of 256 Mb, 512 Mb (x8/ x16) NAND  
Flash +1 die of 256 Mb (x16) DDR  
LPSDRAM  
– 1 die of 512 Mb (x16) NAND Flash + 1 die  
of 256 Mb or 512 Mb (x16) DDR LPSDRAM  
■ Supply voltages  
(1) Preliminary specifications.  
– V  
– V  
= 1.7V to 1.95V or 2.5V to 3.6V  
DDF  
DDD  
■ Fast Block Erase  
= V  
= 1.7V to 1.9V  
DDQD  
– Block erase time: 2ms (typ)  
■ Electronic Signature  
®
■ Status Register  
■ ECOPACK packages  
■ Data integrity  
■ Temperature range  
– 100,000 Program/Erase cycles  
– 10 years Data Retention  
– -30 to 85°C  
Flash Memory  
LPSDRAM  
■ NAND Interface  
■ Interface: x16 or x 32 bus width  
■ Deep Power Down mode  
■ 1.8v LVCMOS interface  
– x8 or x16 bus width  
– Multiplexed Address/ Data  
■ Page size  
– x8 device: (512 + 16 spare) Bytes  
– x16 device: (256 + 8 spare) Words  
■ Quad internal Banks controlled by BA0 and  
BA1  
■ Automatic and controlled Precharge  
■ Block size  
– x8 device: (16K + 512 spare) Bytes  
– x16 device: (8K + 256 spare) Words  
■ Auto Refresh and Self Refresh  
– 8,192 Refresh cycles/64ms  
– Programmable Partial Array Self Refresh  
■ Page Read/Program  
– Auto Temperature Compensated Self  
Refresh  
– Random access: 15µs (max)  
– Sequential access: 50ns (min)  
– Page program time: 200µs (typ)  
■ Wrap sequence: sequential/interleave  
■ Burst Termination by Burst Stop command and  
■ Copy Back Program mode  
Precharge command  
– Fast page copy without external buffering  
August 2006  
Rev 5  
1/23  
www.st.com  
2
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与NAND256W4M2AZC5E相关器件

型号 品牌 获取价格 描述 数据表
NAND256W4M2AZC5F STMICROELECTRONICS

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 		256/512Mb/1Gb (x8/x16, 1.8/3V, 528 Byte Page) NAND Flash Memories + 256/512Mb (x16/x32, 1.
NAND256W4M2BZB5E STMICROELECTRONICS

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 		256/512Mb/1Gb (x8/x16, 1.8/3V, 528 Byte Page) NAND Flash Memories + 256/512Mb (x16/x32, 1.
NAND256W4M2BZB5F STMICROELECTRONICS

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NAND256W4M2BZC5F STMICROELECTRONICS

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NAND256W4M2CZB5F STMICROELECTRONICS

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