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MT90210

更新时间： 2024-02-04 22:36:45

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MITEL		/
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27页	136K
描述
Multi-Rate Parallel Access Circuit

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MT90210 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Obsolete
包装说明：	QFP, QFP100,.7X1.0	Reach Compliance Code：	unknown
HTS代码：	8542.39.00.01	风险等级：	5.22
Is Samacsys：	N	JESD-30 代码：	R-PQFP-G100
JESD-609代码：	e0	长度：	20 mm
功能数量：	1	端子数量：	100
最高工作温度：	85 °C	最低工作温度：	-40 °C
封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY	封装代码：	QFP
封装等效代码：	QFP100,.7X1.0	封装形状：	RECTANGULAR
封装形式：	FLATPACK	峰值回流温度（摄氏度）：	260
电源：	5 V	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	3.4 mm	子类别：	Other Telecom ICs
最大压摆率：	0.1 mA	标称供电电压：	5 V
表面贴装：	YES	技术：	CMOS
电信集成电路类型：	TELECOM CIRCUIT	温度等级：	INDUSTRIAL
端子面层：	Tin/Lead (Sn/Pb)	端子形式：	GULL WING
端子节距：	0.65 mm	端子位置：	QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED	宽度：	14 mm
Base Number Matches：	1

MT90210 数据手册

Preliminary Information

MT90210

RBC

125 us

WBC

125 us

Access

of both

Block 0

Access

of both

Block 0

Exclusive access of

Block 0

Exclusive access of

Block 1

Exclusive access of

Block 0

Block 1

~ 1 timeslot for modes 1, 2 & 3

~ 3 timeslots for modes 4 & 5

Figure 7b - WBC and RBC operation in relation to accessing data from Block 0 and Block 1

SCLK

PCLK

A0-A12

R/W1

Toggles only during

write data cycle

Changes state (high to low)

on every change of a block

of reads or block of writes

R/W2

Low during read cycle,

high during inactive

periods and toggles

during write cycles

Strobe

P0-P7

Note: The MT90210 device performs groups of writes and groups of reads separated by 4 inactive PCLK periods

for modes 3, 4 and 5. In mode 1 and mode 2, the write and read groups are separated by 8 PCLK periods.

Figure 8 - Parallel Port Functional Read/Write Operation

Test Access Port (TAP)

JTAG Support

The Test Access Port (TAP) provides access to many

test support functions built into the MT90210. It

consists of three input connections and one output

connection. The following connections form the TAP:

The MT90210 JTAG interface is designed according

to the Boundary-Scan standard IEEE1149.1. The

standard speciﬁes a design-for-testability technique

called Boundary-Scan Test (BST). A boundary-scan

IC has a shift-register stage or ‘Boundary-Scan Cell’

(BSC) in between the core logic and the I/O buffers

adjacent to each I/O pin. The BSCs can control and

observe what happens at each I/O pin of the IC. The

operation of the boundary-scan circuitry is controlled

by a Test Access Port (TAP) Controller.

•

Test Clock Input (TCK)

Test Mode Select Input (TMS)

Test Data Input (TDI)

Test port Reset (TRST)

Test Data Output (TDO)

2-153

1...6 7 8910 11 12...27

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与MT90210相关器件

型号	品牌	获取价格	描述	数据表
MT90210AL	MITEL	获取价格	Multi-Rate Parallel Access Circuit
MT90210AL	ZARLINK	获取价格	Telecom Circuit, 1-Func, CMOS, PQFP100, 14 X 20 MM, 0.65 MM PITCH, PLASTIC, MS-108, QFP-10
MT90220	MITEL	获取价格	Octal IMA/UNI PHY Device
MT90220AL	MITEL	获取价格	Octal IMA/UNI PHY Device
MT90221	MITEL	获取价格	Quad IMA/UNI PHY Device
MT90221AL	MITEL	获取价格	Quad IMA/UNI PHY Device
MT90222	ZARLINK	获取价格	4/8/16 Port IMA/TC PHY Device
MT90222AG	ZARLINK	获取价格	4/8/16 Port IMA/TC PHY Device
MT90222AG2	MICROSEMI	获取价格	ATM/SONET/SDH Segmentation and Reassembly Device, PBGA384,
MT90223AG	ZARLINK	获取价格	4/8/16 Port IMA/TC PHY Device

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