是否Rohs认证: | 符合 | 生命周期: | Obsolete |
包装说明: | FBGA, BGA84,9X15,32 | Reach Compliance Code: | compliant |
风险等级: | 5.83 | 最长访问时间: | 0.4 ns |
最大时钟频率 (fCLK): | 400 MHz | I/O 类型: | COMMON |
交错的突发长度: | 4,8 | JESD-30 代码: | R-PBGA-B84 |
JESD-609代码: | e1 | 内存密度: | 1073741824 bit |
内存集成电路类型: | DDR DRAM | 内存宽度: | 16 |
湿度敏感等级: | 3 | 端子数量: | 84 |
字数: | 67108864 words | 字数代码: | 64000000 |
组织: | 64MX16 | 输出特性: | 3-STATE |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | FBGA |
封装等效代码: | BGA84,9X15,32 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | GRID ARRAY, FINE PITCH | 峰值回流温度(摄氏度): | 260 |
电源: | 1.8 V | 认证状态: | Not Qualified |
刷新周期: | 8192 | 连续突发长度: | 4,8 |
最大待机电流: | 0.01 A | 子类别: | DRAMs |
最大压摆率: | 0.18 mA | 标称供电电压 (Vsup): | 1.8 V |
表面贴装: | YES | 技术: | CMOS |
端子面层: | TIN SILVER COPPER | 端子形式: | BALL |
端子节距: | 0.8 mm | 端子位置: | BOTTOM |
处于峰值回流温度下的最长时间: | 40 | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 描述 | 获取价格 | 数据表 |
K4T1G164QF-BIE6 | SAMSUNG | DDR DRAM, 64MX16, 0.45ns, CMOS, PBGA84 |
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K4T1G164QF-BIE60 | SAMSUNG | DDR DRAM, 64MX16, 0.45ns, CMOS, PBGA84, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-84 |
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K4T1G164QF-BIE7T | SAMSUNG | DDR DRAM, 64MX16, 0.4ns, CMOS, PBGA84 |
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K4T1G164QF-BIF7 | SAMSUNG | DDR DRAM, 64MX16, 0.4ns, CMOS, PBGA84 |
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K4T1G164QF-BIF70 | SAMSUNG | DDR DRAM, 64MX16, 0.4ns, CMOS, PBGA84, HALOGEN FREE AND ROHS COMPLIANT, FBGA-84 |
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K4T1G164QF-BPF7 | SAMSUNG | DDR DRAM, 64MX16, 0.4ns, CMOS, PBGA84 |
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