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CSD23285F5T

更新时间: 2024-11-29 11:15:07
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德州仪器 - TI 开关脉冲晶体管栅极
页数 文件大小 规格书
14页 1377K
描述
采用 0.8mm x 1.5mm LGA 封装、具有栅极 ESD 保护的单路、35mΩ、-12V、P 沟道 NexFET™ 功率 MOSFET | YJK | 3 | -55 to 150

CSD23285F5T 技术参数

是否无铅: 不含铅是否Rohs认证: 符合
生命周期:ActiveReach Compliance Code:compliant
风险等级:1.66配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE AND RESISTOR
最小漏源击穿电压:12 V最大漏极电流 (ID):3.3 A
最大漏源导通电阻:0.13 ΩFET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
最大反馈电容 (Crss):48 pFJESD-30 代码:R-XBCC-N3
湿度敏感等级:1元件数量:1
端子数量:3工作模式:ENHANCEMENT MODE
封装主体材料:UNSPECIFIED封装形状:RECTANGULAR
封装形式:CHIP CARRIER峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED
极性/信道类型:P-CHANNEL最大脉冲漏极电流 (IDM):31 A
表面贴装:YES端子形式:NO LEAD
端子位置:BOTTOM处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
晶体管应用:SWITCHING晶体管元件材料:SILICON
Base Number Matches:1

CSD23285F5T 数据手册

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CSD23285F5  
ZHCSFD2B AUGUST 2016 REVISED FEBRUARY 2022  
CSD23285F5 -12V P FemtoFET™ MOSFET  
产品概要  
1 特性  
TA = 25°C  
VDS  
典型值  
12  
3.2  
单位  
V
漏源电压  
• 低导通电阻  
Qg Qgd  
• 超小尺寸  
Qg  
nC  
nC  
栅极电荷总(-4.5V)  
Qgd  
0.48  
栅极电荷栅极到漏极)  
漏源导通电阻  
1.53mm x 0.77mm  
0.50mm 焊盘间距  
• 薄型封装  
64  
49  
38  
29  
VGS = 1.5V  
VGS = -1.8V  
VGS = -2.5V  
VGS = -4.5V  
0.65  
RDS(on)  
mΩ  
– 厚度0.36mm  
• 集成ESD 保护二极管  
VGS(th)  
V
阈值电压  
– 额定> 4kV 人体放电模(HBM)  
– 额定> 2kV 组件充电模(CDM)  
• 无铅且无卤素  
器件信息(1)  
介质  
器件  
数量  
封装  
配送  
CSD23285F5  
3000  
Femto  
• 符RoHS  
1.53mm × 0.77mm  
7 英寸卷带  
卷带式  
CSD23285F5T  
250  
无引线SMD  
2 应用  
(1) 如需了解所有可用封装请参阅数据表末尾的可订购产品附  
录。  
• 针对工业负载开关应用进行了优化  
• 针对通用开关应用进行了优化  
绝对最大额定值  
3 说明  
TA = 25°C  
单位  
VDS  
V
12  
6  
漏源电压  
29mΩ、-12V N 沟道 FemtoFETMOSFET 技术  
经过设计和优化能够最大限度地减小在许多手持式和  
移动应用中占用的空间。这项技术能够在替代标准小信  
MOSFET 的同时大幅减小封装尺寸。  
VGS  
ID  
IDM  
PD  
V
栅源电压  
持续漏极电流(1)  
持续漏极电流(2)  
脉冲漏极电流(1) (3)  
功率耗散(1)  
3.3  
5.4  
31  
0.5  
A
A
W
功率耗散(2)  
1.4  
4000  
2000  
人体放电模(HBM)  
充电器件模(CDM)  
0.36 mm  
V(ESD)  
V
TJ、  
Tstg  
55 至  
150  
工作结温、  
贮存温度  
°C  
(1)  
(2)  
R
R
θJA = 245°C/W覆铜面积最小时的典型值。  
θJA = 90°C/W覆铜面积最大时的典型值。  
(3) 脉冲持续时100μs占空1%。  
0.77 mm  
1.53 mm  
G
3-1. 典型器件尺寸  
S
D
3-2. 顶视图  
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English Data Sheet: SLPS608  
 
 
 
 
 
 
 
 
 

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