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| 型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
| 74LVT16952DGGRE4 | TI |
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3.3-V ABT 16-BIT REGISTERED TRANSCEIVERS WITH 3-STATE OUTPUTS |
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| 74LVT16952MEA | FAIRCHILD |
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Low Voltage 16-Bit Registered Transceiver with 3-STATE Outputs |
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| 74LVT16952MEAX | FAIRCHILD |
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Low Voltage 16-Bit Registered Transceiver with 3-STATE Outputs |
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| 74LVT16952MTD | FAIRCHILD |
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Low Voltage 16-Bit Registered Transceiver with 3-STATE Outputs |
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| 74LVT16952MTDX | FAIRCHILD |
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Low Voltage 16-Bit Registered Transceiver with 3-STATE Outputs |
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| 74LVT18512DGGRE4 | TI |
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3.3-V ABT SCAN TEST DEVICES WITH 18-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS |
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| 74LVT20 | NXP |
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3.3V Dual 4-input NAND gate |
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| 74LVT20D | NXP |
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3.3V Dual 4-input NAND gate |
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| 74LVT20DB | NXP |
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3.3V Dual 4-input NAND gate |
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| 74LVT20DB-T | ETC |
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Dual 4-input NAND Gate |
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解析光耦仿真器：升级光耦合器技术的必要性
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