是否无铅: | 不含铅 | 是否Rohs认证: | 符合 |
生命周期: | Obsolete | 包装说明: | FBGA, BGA60,9X11,32 |
Reach Compliance Code: | unknown | 风险等级: | 5.84 |
最长访问时间: | 0.5 ns | 最大时钟频率 (fCLK): | 267 MHz |
I/O 类型: | COMMON | 交错的突发长度: | 4,8 |
JESD-30 代码: | R-PBGA-B60 | 内存密度: | 1073741824 bit |
内存集成电路类型: | DDR DRAM | 内存宽度: | 8 |
湿度敏感等级: | 3 | 端子数量: | 60 |
字数: | 134217728 words | 字数代码: | 128000000 |
组织: | 128MX8 | 输出特性: | 3-STATE |
封装主体材料: | PLASTIC/EPOXY | 封装代码: | FBGA |
封装等效代码: | BGA60,9X11,32 | 封装形状: | RECTANGULAR |
封装形式: | GRID ARRAY, FINE PITCH | 峰值回流温度(摄氏度): | 260 |
电源: | 1.8 V | 认证状态: | Not Qualified |
刷新周期: | 8192 | 连续突发长度: | 4,8 |
子类别: | DRAMs | 最大压摆率: | 0.24 mA |
标称供电电压 (Vsup): | 1.8 V | 表面贴装: | YES |
技术: | CMOS | 端子形式: | BALL |
端子节距: | 0.8 mm | 端子位置: | BOTTOM |
处于峰值回流温度下的最长时间: | NOT SPECIFIED | Base Number Matches: | 1 |
型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
K4T1G084QD-ZCD50 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.5ns, CMOS, PBGA60, FBGA-60 | |
K4T1G084QD-ZCD5T | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.5ns, CMOS, PBGA60 | |
K4T1G084QD-ZCE6 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.45ns, CMOS, PBGA60, | |
K4T1G084QD-ZCE7 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.4ns, CMOS, PBGA60, | |
K4T1G084QD-ZCE70 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.4ns, CMOS, PBGA60, FBGA-60 | |
K4T1G084QD-ZCE7T | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.4ns, CMOS, PBGA60 | |
K4T1G084QD-ZCF7 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.4ns, CMOS, PBGA60 | |
K4T1G084QD-ZCF70 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.4ns, CMOS, PBGA60, FBGA-60 | |
K4T1G084QD-ZLCC0 | SAMSUNG |
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DDR DRAM, 128MX8, 0.6ns, CMOS, PBGA60, ROHS COMPLIANT, FBGA-60 | |
K4T1G084QD-ZLD5 | SAMSUNG |
获取价格 |
DDR DRAM, 128MX8, 0.5ns, CMOS, PBGA60 |