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K4R571669E-GCT9

更新时间: 2024-11-29 20:54:35
品牌 Logo 应用领域
三星 - SAMSUNG 时钟动态存储器内存集成电路
页数 文件大小 规格书
20页 308K
描述
Rambus DRAM, 16MX16, 32ns, CMOS, PBGA84

K4R571669E-GCT9 技术参数

是否无铅: 不含铅是否Rohs认证: 符合
生命周期:Obsolete包装说明:FBGA, BGA84,10X16,32
Reach Compliance Code:compliant风险等级:5.84
最长访问时间:32 ns最大时钟频率 (fCLK):1066 MHz
I/O 类型:COMMONJESD-30 代码:R-PBGA-B84
内存密度:268435456 bit内存集成电路类型:RAMBUS DRAM
内存宽度:16湿度敏感等级:3
端子数量:84字数:16777216 words
字数代码:16000000组织:16MX16
输出特性:3-STATE封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装代码:FBGA封装等效代码:BGA84,10X16,32
封装形状:RECTANGULAR封装形式:GRID ARRAY, FINE PITCH
峰值回流温度(摄氏度):260电源:1.8/2.5,2.5 V
认证状态:Not Qualified子类别:DRAMs
表面贴装:YES技术:CMOS
端子形式:BALL端子节距:0.8 mm
端子位置:BOTTOM处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
Base Number Matches:1

K4R571669E-GCT9 数据手册

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K4R571669E  
Direct RDRAM  
256Mbit RDRAM(E-die)  
512K x 16bit x 32s banks  
Direct RDRAMTM  
Version 1.4  
January 2004  
Version 1.4 Jan. 2004  

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