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| 生命周期： | Obsolete | 包装说明： | DIP, |
| Reach Compliance Code： | unknown | 风险等级： | 5.45 |
| 系列： | BCT/FBT | JESD-30 代码： | R-GDIP-T20 |
| 长度： | 24.195 mm | 负载电容（CL）： | 50 pF |
| 逻辑集成电路类型： | BUS DRIVER | 位数： | 4 |
| 功能数量： | 2 | 端口数量： | 2 |
| 端子数量： | 20 | 最高工作温度： | 125 °C |
| 最低工作温度： | -55 °C | 输出特性： | OPEN-COLLECTOR |
| 输出极性： | TRUE | 封装主体材料： | CERAMIC, GLASS-SEALED |
| 封装代码： | DIP | 封装形状： | RECTANGULAR |
| 封装形式： | IN-LINE | 最大电源电流（ICC）： | 0.076 mA |
| 传播延迟（tpd）： | 7.7 ns | 认证状态： | Not Qualified |
| 座面最大高度： | 5.08 mm | 最大供电电压 (Vsup)： | 5.5 V |
| 最小供电电压 (Vsup)： | 4.5 V | 标称供电电压 (Vsup)： | 5 V |
| 表面贴装： | NO | 技术： | BICMOS |
| 温度等级： | MILITARY | 端子形式： | THROUGH-HOLE |
| 端子节距： | 2.54 mm | 端子位置： | DUAL |
| 宽度： | 7.62 mm | Base Number Matches： | 1 |
| 型号 | 品牌 | 获取价格 | 描述 | 数据表 |
| SNJ54BCT760W | TI |
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OCTAL BUFFERS/DRIVERS WITH OPEN-COLLECTOR OUTPUTS |
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| SNJ54BCT8240AFK | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS |
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| SNJ54BCT8240AJT | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL INVERTING BUFFERS |
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| SNJ54BCT8244AFK | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS |
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| SNJ54BCT8244AFKR | TI |
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暂无描述 |
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| SNJ54BCT8244AJT | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUFFERS |
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| SNJ54BCT8245AFK | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SNJ54BCT8245AJT | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL BUS TRANSCEIVERS |
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| SNJ54BCT8373AFK | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES |
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| SNJ54BCT8373AJT | TI |
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SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-TYPE LATCHES |
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