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Datasheet > 暂无类别数据> SN74ABT18504PM
SN74ABT18504PM PDF预览

SN74ABT18504PM

更新时间： 2024-11-10 22:36:31
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 总线收发器测试
页数 文件大小 规格书
30页 450K
描述
SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS

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SN74ABT18504PM 技术参数

是否无铅： 不含铅是否Rohs认证： 符合
生命周期：Active零件包装代码：QFP
包装说明：LFQFP, QFP64,.47SQ,20针数：64
Reach Compliance Code：compliantECCN代码：EAR99
HTS代码：8542.39.00.01Factory Lead Time：1 week
风险等级：1.63其他特性：WITH INDEPENDENT OUTPUT ENABLE FOR EACH DIRECTION; WITH CLOCK ENABLE
控制类型：INDEPENDENT CONTROL计数方向：BIDIRECTIONAL
系列：ABTJESD-30 代码：S-PQFP-G64
JESD-609代码：e4长度：10 mm
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：BOUNDARY SCAN REG BUS TRANSCEIVER
最大I（ol）：0.064 A湿度敏感等级：3
位数：20功能数量：1
端口数量：2端子数量：64
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
输出特性：3-STATE输出极性：TRUE
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：LFQFP
封装等效代码：QFP64,.47SQ,20封装形状：SQUARE
封装形式：FLATPACK, LOW PROFILE, FINE PITCH包装方法：TRAY
峰值回流温度（摄氏度）：260电源：5 V
最大电源电流（ICC）：40 mAProp。Delay @ Nom-Sup：6.5 ns
传播延迟（tpd）：6.8 ns认证状态：Not Qualified
座面最大高度：1.6 mm子类别：Bus Driver/Transceiver
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：4.5 V
标称供电电压 (Vsup)：5 V表面贴装：YES
技术：BICMOS温度等级：INDUSTRIAL
端子面层：Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)端子形式：GULL WING
端子节距：0.5 mm端子位置：QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED翻译：N/A
宽度：10 mm

SN74ABT18504PM 数据手册

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SN54ABT18504, SN74ABT18504  
SCAN TEST DEVICES WITH  
20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS  
SCBS108B – AUGUST 1992 – REVISED JUNE 1993  
• Members of the Texas Instruments  
• SCOPE Instruction Set  
– IEEE Standard 1149.1-1990 Required  
Instructions, Optional INTEST, and  
P1149.1A CLAMP and HIGHZ  
– Parallel Signature Analysis at Inputs With  
Masking Option  
SCOPE Family of Testability Products  
• Members of the Texas Instruments  
Widebus Family  
• Compatible With the IEEE Standard  
1149.1-1990 (JTAG) Test Access Port and  
Boundary-Scan Architecture  
– Pseudo-Random Pattern Generation  
From Outputs  
• UBT (Universal Bus Transceiver)  
Combines D-Type Latches and D-Type  
Flip-Flops for Operation in Transparent,  
Latched, or Clocked Mode  
– Sample Inputs/Toggle Outputs  
– Binary Count From Outputs  
– Device Identification  
– Even-Parity Opcodes  
• Two Boundary-Scan Cells per I/O for  
• Packaged in 64-Pin Plastic Thin Quad Flat  
Pack Using 0.5-mm Center-to-Center  
Spacings and 68-Pin Ceramic Quad Flat  
Pack Using 25-mil Center-to-Center  
Spacings  
Greater Flexibility  
• State-of-the-Art EPIC-ΙΙB BiCMOS Design  
Significantly Reduces Power Dissipation  
SN54ABT18504 . . . HV PACKAGE  
(TOP VIEW)  
9
8
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6
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2 1 68 67 66 65 64 63 62 61  
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GND  
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NC  
B5  
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B7  
GND  
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V
CC  
NC  
V
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GND  
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B16  
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CC  
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GND  
A14  
A15  
A16  
27 28 29 30 31 32 33 34 35 36 37 38 39 40 41 42 43  
NC – No internal connection  
SCOPE, Widebus, UBT, and EPIC-ΙΙB are trademarks of Texas Instruments Incorporated.  
Copyright 1993, Texas Instruments Incorporated  
UNLESS OTHERWISE NOTED this document contains PRODUCTION  
DATA information current as of publication date. Products conform to  
specifications per the terms of Texas Instruments standard warranty.  
Production processing does not necessarily include testing of all  
parameters.  
1
POST OFFICE BOX 655303 • DALLAS, TEXAS 75265  
1234567...30

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SN74ABT18504PM 替代型号

型号 品牌 替代类型 描述 数据表
SN74ABT18504PMRG4 TI

完全替代

 SCAN TEST DEVICES WITH 20-BIT UNIVERSAL BUS TRANSCEIVERS
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