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KM736FV4002H-10

更新时间: 2024-11-15 19:31:23
品牌 Logo 应用领域
三星 - SAMSUNG 静态存储器内存集成电路
页数 文件大小 规格书
11页 778K
描述
Late-Write SRAM, 128KX36, 9ns, CMOS, PBGA119

KM736FV4002H-10 技术参数

是否无铅: 含铅是否Rohs认证: 不符合
生命周期:Obsolete包装说明:BGA, BGA119,7X17,50
Reach Compliance Code:unknown风险等级:5.92
最长访问时间:9 nsI/O 类型:COMMON
JESD-30 代码:R-PBGA-B119JESD-609代码:e0
内存密度:4718592 bit内存集成电路类型:LATE-WRITE SRAM
内存宽度:36湿度敏感等级:3
端子数量:119字数:131072 words
字数代码:128000工作模式:SYNCHRONOUS
最高工作温度:70 °C最低工作温度:
组织:128KX36输出特性:3-STATE
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:BGA
封装等效代码:BGA119,7X17,50封装形状:RECTANGULAR
封装形式:GRID ARRAY并行/串行:PARALLEL
峰值回流温度(摄氏度):260电源:2.5,3.3 V
认证状态:Not Qualified最大待机电流:0.1 A
最小待机电流:3.15 V子类别:SRAMs
最大压摆率:0.45 mA表面贴装:YES
技术:CMOS温度等级:COMMERCIAL
端子面层:Tin/Lead (Sn/Pb)端子形式:BALL
端子节距:1.27 mm端子位置:BOTTOM
处于峰值回流温度下的最长时间:40Base Number Matches:1

KM736FV4002H-10 数据手册

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