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IXTH76N25T

更新时间: 2024-02-21 15:53:53
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力特 - LITTELFUSE
页数 文件大小 规格书
8页 312K
描述
沟槽栅功率MOSFET适用于低电压/高电流应用,所需的RDS(ON)极低,因此确保了非常低的功率耗损。 再结合广泛的工作结温范围(从-40 °C到175 °C),这些产品非常适合汽车应用以及其他处

IXTH76N25T 数据手册

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IXTA76N25T IXTP76N25T  
IXTQ76N25T IXTH76N25T  
Fig. 13. Resistive Turn-on Rise Time vs.  
Junction Temperature  
Fig. 14. Resistive Turn-on Rise Time vs.  
Drain Current  
38  
34  
30  
26  
22  
18  
14  
10  
6
38  
34  
30  
26  
22  
18  
14  
10  
6
RG = 3.3, VGS = 15V  
VDS = 125V  
TJ = 25ºC  
I D = 76A  
RG = 3.3, VGS = 15V  
VDS = 125V  
I D = 38A  
TJ = 125ºC  
15  
20  
25  
30  
35  
40  
45  
50  
55  
60  
65  
70  
75  
80  
25  
35  
45  
55  
65  
75  
85  
95  
105  
115  
125  
T J - Degrees Centigrade  
ID - Amperes  
Fig. 15. Resistive Turn-on Switching Times vs.  
Gate Resistance  
Fig. 16. Resistive Turn-off Switching Times vs.  
Junction Temperature  
38  
68  
64  
60  
56  
52  
48  
44  
40  
30  
25  
24  
23  
22  
21  
20  
28  
26  
24  
22  
20  
18  
16  
14  
12  
10  
tr  
TJ = 125ºC, VGS = 15V  
DS = 125V  
td(on)  
- - - -  
34  
30  
26  
22  
18  
14  
10  
I D = 38A  
V
I D = 38A  
I D = 76A  
I D = 76A  
t f  
td(off)  
- - - -  
RG = 3.3, VGS = 15V  
VDS = 125V  
3
4
5
6
7
8
9
10  
11  
12  
13  
14  
15  
25  
35  
45  
55  
65  
75  
85  
95  
105  
115  
125  
RG - Ohms  
TJ - Degrees Centigrade  
Fig. 18. Resistive Turn-off Switching Times vs.  
Gate Resistance  
Fig. 17. Resistive Turn-off Switching Times vs.  
Drain Current  
32  
30  
28  
26  
24  
22  
20  
18  
16  
14  
12  
73  
80  
70  
60  
50  
40  
30  
20  
10  
190  
TJ = 25ºC  
70  
67  
64  
61  
58  
55  
52  
49  
46  
43  
tf  
td(off)  
- - - -  
170  
150  
130  
110  
90  
TJ = 125ºC, VGS = 15V  
VDS = 125V  
TJ = 125ºC  
I D = 38A, 76A  
tf  
td(off)  
- - - -  
TJ = 25ºC  
RG = 3.3, VGS = 15V  
VDS = 125V  
TJ = 125ºC  
70  
50  
3
4
5
6
7
8
9
10  
11  
12  
13  
14  
15  
15  
20  
25  
30  
35  
40  
45  
50  
55  
60  
65  
70  
75  
80  
RG - Ohms  
ID - Amperes  
IXYS Reserves the Right to Change Limits, Test Conditions, and Dimensions.  

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