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FDD8870

更新时间: 2024-02-04 03:56:29
品牌 Logo 应用领域
飞兆/仙童 - FAIRCHILD 晶体晶体管功率场效应晶体管开关
页数 文件大小 规格书
11页 129K
描述
N-Channel PowerTrench MOSFET

FDD8870 技术参数

是否Rohs认证: 符合生命周期:Obsolete
零件包装代码:TO-252AA包装说明:SMALL OUTLINE, R-PSSO-G2
针数:3Reach Compliance Code:not_compliant
ECCN代码:EAR99风险等级:5.36
雪崩能效等级(Eas):690 mJ外壳连接:DRAIN
配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE最小漏源击穿电压:30 V
最大漏极电流 (Abs) (ID):160 A最大漏极电流 (ID):21 A
最大漏源导通电阻:0.0044 ΩFET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
JEDEC-95代码:TO-252AAJESD-30 代码:R-PSSO-G2
JESD-609代码:e3元件数量:1
端子数量:2工作模式:ENHANCEMENT MODE
最高工作温度:175 °C封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装形状:RECTANGULAR封装形式:SMALL OUTLINE
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED极性/信道类型:N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs):160 W认证状态:Not Qualified
子类别:FET General Purpose Power表面贴装:YES
端子面层:Matte Tin (Sn)端子形式:GULL WING
端子位置:SINGLE处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
晶体管应用:SWITCHING晶体管元件材料:SILICON
Base Number Matches:1

FDD8870 数据手册

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Test Circuits and Waveforms  
VDS  
BVDSS  
tP  
L
VDS  
IAS  
VARY tP TO OBTAIN  
+
VDD  
RG  
REQUIRED PEAK IAS  
VGS  
VDD  
-
DUT  
tP  
IAS  
0V  
0
0.01Ω  
tAV  
Figure 15. Unclamped Energy Test Circuit  
Figure 16. Unclamped Energy Waveforms  
VDS  
VDD  
Qg(TOT)  
VGS  
VDS  
L
VGS = 10V  
Qg(5)  
VGS  
+
Qgs2  
VDD  
VGS = 5V  
-
DUT  
VGS = 1V  
Ig(REF)  
0
Qg(TH)  
Qgs  
Qgd  
Ig(REF)  
0
Figure 17. Gate Charge Test Circuit  
Figure 18. Gate Charge Waveforms  
VDS  
tON  
td(ON)  
tOFF  
td(OFF)  
RL  
tr  
t
f
VDS  
90%  
90%  
+
VGS  
VDD  
10%  
10%  
-
0
DUT  
90%  
50%  
RGS  
VGS  
50%  
PULSE WIDTH  
VGS  
10%  
0
Figure 19. Switching Time Test Circuit  
Figure 20. Switching Time Waveforms  
©2004 Fairchild Semiconductor Corporation  
FDD8870 / FDU8870 Rev. C  

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