TPD6E001RSFRG4

更新时间： 2024-01-01 18:11:29

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德州仪器 - TI		瞬态抑制器二极管局域网
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LOW-CAPACITANCE 6-CHANNEL 【15-kV ESD-PROTECTION ARRAY FOR HIGH-SPEED DATA INTERFACES

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TPD6E001RSFRG4 技术参数

是否Rohs认证：	符合	生命周期：	Obsolete
零件包装代码：	QFN	包装说明：	QFN-12
针数：	12	Reach Compliance Code：	compliant
ECCN代码：	EAR99	HTS代码：	8541.10.00.50
风险等级：	5.62	Is Samacsys：	N
最小击穿电压：	11 V	最大钳位电压：	105.5 V
配置：	SINGLE	二极管元件材料：	SILICON
二极管类型：	TRANS VOLTAGE SUPPRESSOR DIODE	JEDEC-95代码：	MO-220WGGB
JESD-30 代码：	S-PQFP-N12	JESD-609代码：	e4
湿度敏感等级：	1	元件数量：	1
端子数量：	12	最高工作温度：	85 °C
最低工作温度：	-40 °C	封装主体材料：	PLASTIC/EPOXY
封装形状：	SQUARE	封装形式：	FLATPACK
峰值回流温度（摄氏度）：	260	极性：	UNIDIRECTIONAL
认证状态：	Not Qualified	参考标准：	IEC-61000-4-2
子类别：	Transient Suppressors	表面贴装：	YES
技术：	AVALANCHE	端子面层：	Nickel/Palladium/Gold (Ni/Pd/Au)
端子形式：	NO LEAD	端子位置：	QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED	Base Number Matches：	1

TPD6E001RSFRG4 数据手册

TPD6E001

LOW-CAPACITANCE 6-CHANNEL ±15-kV ESD-PROTECTION ARRAY

FOR HIGH-SPEED DATA INTERFACES

www.ti.com

SLLS685C–JULY 2006–REVISED APRIL 2007

LOGIC BLOCK DIAGRAM

V_CC

IO1

IO2

IO3

IO4

IO5

IO6

GND

PIN DESCRIPTION

RSE NO.

RSF NO.

NAME

FUNCTION

1, 2, 3,

6, 7, 8

1, 2, 3,

7, 8, 9

IOx

ESD-protected channel

Ground

GND

V_CC

N.C.

Power-supply input. Bypass V_CCto GND with a 0.1-µF ceramic capacitor.

Not internally connected

4, 9

4, 6, 10, 12

Exposed pad. Connect to GND.

Absolute Maximum Ratings⁽¹⁾

over operating free-air temperature range (unless otherwise noted)

MIN

–0.3

–65

MAX UNIT

V_CC

V_I/O

V_CC+ 0.3

150

T_stg

T_J

Storage temperature range

Junction temperature

°C

150

Infrared (15 s)

220

Bump temperature (soldering)

°C

Vapor phase (60 s)

215

Lead temperature (soldering, 10 s)

300

(1) Stresses beyond those listed under "absolute maximum ratings" may cause permanent damage to the device. These are stress ratings

only, and functional operation of the device at these or any other conditions beyond those indicated in the operational sections of the

specifications is not implied. Exposure to absolute-maximum-rated conditions for extended periods may affect device reliability.

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