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TC7SH32FE(TE85L)

更新时间： 2024-11-21 21:21:31
品牌 Logo 应用领域
东芝 - TOSHIBA 栅输入元件光电二极管逻辑集成电路触发器
页数 文件大小 规格书
6页 137K
描述
IC,LOGIC GATE,2-INPUT OR,CMOS,FP,6PIN,PLASTIC

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TC7SH32FE(TE85L) 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
包装说明：DFP, FL6,.047,20Reach Compliance Code：unknown
风险等级：5.92JESD-30 代码：R-PDFP-F6
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：OR GATE
最大I（ol）：0.004 A端子数量：6
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：DFP
封装等效代码：FL6,.047,20封装形状：RECTANGULAR
封装形式：FLATPACK包装方法：TAPE AND REEL
电源：2/5.5 VProp。Delay @ Nom-Sup：13 ns
认证状态：Not Qualified施密特触发器：NO
子类别：Gates表面贴装：YES
技术：CMOS温度等级：INDUSTRIAL
端子形式：FLAT端子节距：0.5 mm
端子位置：DUALBase Number Matches：1

TC7SH32FE(TE85L) 数据手册

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TC7SH32FE  
TOSHIBA CMOS Digital Integrated Circuit Silicon Monolithic  
TC7SH32FE  
2-Input OR Gate  
Features  
•
•
•
•
•
High speed operation : t = 3.8 ns (typ.) at V  
= 5 V, 15 pF  
pd  
CC  
Low power dissipation : I  
= 2 μA (max) at Ta = 25°C  
CC  
High noise immunity : V  
5.5-V tolerant inputs  
= V  
= 28% V  
(min)  
NIH  
NIL  
CC  
Wide operating voltage range : V = 2 to 5.5 V  
CC  
(ESV)  
Weight: 0.003 g (typ.)  
Marking  
Pin Assignment (top view)  
Product name  
IN B  
IN A  
GND  
1
2
3
5
V
CC  
H 4  
4
OUT Y  
Absolute Maximum Ratings (Ta = 25°C)  
Characteristics  
Supply voltage  
Symbol  
Rating  
Unit  
V
− 0.5 to 7  
− 0.5 to 7  
V
V
CC  
DC input voltage  
V
IN  
DC output voltage  
Input diode current  
Output diode current  
DC output current  
V
− 0.5 to V  
+ 0.5  
V
OUT  
CC  
I
− 20  
mA  
mA  
mA  
mA  
mW  
°C  
IK  
I
± 20  
± 25  
(Note1)  
OK  
I
OUT  
DC V /ground current  
CC  
I
± 50  
CC  
Power dissipation  
P
150  
D
Storage temperature  
T
− 65 to 150  
stg  
Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high temperature/current/voltage and the  
significant change in temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly even  
if the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum  
ratings and the operating ranges.  
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook  
(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test  
report and estimated failure rate, etc).  
Note1: VOUT < GND, VOUT > VCC  
1
2009-09-09  
123456

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