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TC7SH00FS

更新时间： 2024-11-21 04:28:47
品牌 Logo 应用领域
东芝 - TOSHIBA 栅
页数 文件大小 规格书
6页 150K
描述
2 Input NAND Gate

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TC7SH00FS 技术参数

是否Rohs认证： 符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：SON包装说明：VSOF, FL6,.03,14
针数：5Reach Compliance Code：unknown
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.79
系列：HC/UHJESD-30 代码：R-PDSO-F5
JESD-609代码：e0长度：1 mm
负载电容（CL）：50 pF逻辑集成电路类型：NAND GATE
最大I（ol）：0.004 A功能数量：1
输入次数：2端子数量：5
最高工作温度：85 °C最低工作温度：-40 °C
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：VSOF
封装等效代码：FL6,.03,14封装形状：RECTANGULAR
封装形式：SMALL OUTLINE, VERY THIN PROFILE电源：2.5/5 V
Prop。Delay @ Nom-Sup：13 ns传播延迟（tpd）：13 ns
认证状态：Not Qualified施密特触发器：NO
座面最大高度：0.5 mm子类别：Gates
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：2 V
标称供电电压 (Vsup)：3.3 V表面贴装：YES
技术：CMOS温度等级：INDUSTRIAL
端子面层：TIN LEAD端子形式：FLAT
端子节距：0.35 mm端子位置：DUAL
宽度：0.8 mm

TC7SH00FS 数据手册

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TC7SH00FS  
TOSHIBA CMOS Digital Integrated Circuit Silicon Monolithic  
TC7SH00FS  
2 Input NAND Gate  
Features  
•
•
•
•
•
High speed: t = 3.7 ns (typ.) at V  
= 5 V, 15 pF  
pd  
CC  
Low power dissipation: I  
= 2 μA (max) at Ta = 25°C  
CC  
High noise immunity: V  
= V  
= 28% V  
(min)  
NIH  
NIL  
CC  
Wide operating voltage range: V  
(opr.) = 2~5.5 V  
CC  
5.5-V tolerant inputs  
SON5-P-0.35  
(fSV)  
Weight : 0.001 g (Typ.)  
Marking  
Pin Assignment (top view)  
Product Name  
IN A  
GND  
IN B  
V
CC  
1
2
3
5
H 1  
OUT Y  
4
Absolute Maximum Ratings ( Ta = 25°C)  
Characteristics  
Supply voltage range  
Symbol  
Rating  
Unit  
V
−0.5~7  
−0.5~7  
V
V
CC  
DC input voltage  
V
IN  
DC output voltage  
Input diode current  
Output diode current  
DC output current  
V
−0.5~V  
+ 0.5  
V
OUT  
CC  
I
−20  
mA  
mA  
mA  
mA  
mW  
°C  
IK  
I
±20  
±25  
OK  
I
OUT  
DC V /ground current  
CC  
I
±50  
CC  
Power dissipation  
P
50  
D
Storage temperature  
T
−65~150  
stg  
Note: Using continuously under heavy loads (e.g. the application of high temperature/current/voltage and the  
significant change in temperature, etc.) may cause this product to decrease in the reliability significantly even  
if the operating conditions (i.e. operating temperature/current/voltage, etc.) are within the absolute maximum  
ratings and the operating ranges.  
Please design the appropriate reliability upon reviewing the Toshiba Semiconductor Reliability Handbook  
(“Handling Precautions”/“Derating Concept and Methods”) and individual reliability data (i.e. reliability test  
report and estimated failure rate, etc).  
1
2007-11-01  
123456

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TC7SH00FS 替代型号

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