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SN54ALS633FN

更新时间: 2024-02-27 11:07:12
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德州仪器 - TI 逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
16页 494K
描述
ALS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PQCC68

SN54ALS633FN 技术参数

生命周期:Obsolete包装说明:QCCJ,
Reach Compliance Code:unknownHTS代码:8542.39.00.01
风险等级:5.84其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS; BYTE CONTROL
系列:ALSJESD-30 代码:S-PQCC-J68
长度:24.2316 mm负载电容(CL):50 pF
逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT位数:32
功能数量:1端子数量:68
最高工作温度:125 °C最低工作温度:-55 °C
输出特性:OPEN-COLLECTOR封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装代码:QCCJ封装形状:SQUARE
封装形式:CHIP CARRIER最大电源电流(ICC):250 mA
传播延迟(tpd):65 ns认证状态:Not Qualified
座面最大高度:4.57 mm最大供电电压 (Vsup):5.5 V
最小供电电压 (Vsup):4.5 V标称供电电压 (Vsup):5 V
表面贴装:YES技术:TTL
温度等级:MILITARY端子形式:J BEND
端子节距:1.27 mm端子位置:QUAD
宽度:24.2316 mmBase Number Matches:1

SN54ALS633FN 数据手册

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