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SN54ALS635JD

更新时间: 2024-11-29 15:51:59
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
16页 494K
描述
ALS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, CDIP48

SN54ALS635JD 技术参数

是否Rohs认证:不符合生命周期:Obsolete
Reach Compliance Code:not_compliantHTS代码:8542.39.00.01
风险等级:5.92Is Samacsys:N
其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS系列:ALS
JESD-30 代码:R-CDIP-T48负载电容(CL):50 pF
逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT位数:32
功能数量:1端子数量:48
最高工作温度:125 °C最低工作温度:-55 °C
输出特性:OPEN-COLLECTOR封装主体材料:CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED
封装代码:DIP封装等效代码:DIP48,.6
封装形状:RECTANGULAR封装形式:IN-LINE
峰值回流温度(摄氏度):NOT SPECIFIED传播延迟(tpd):65 ns
认证状态:Not Qualified子类别:Arithmetic Circuits
最大供电电压 (Vsup):5.5 V最小供电电压 (Vsup):4.5 V
标称供电电压 (Vsup):5 V表面贴装:NO
技术:TTL温度等级:MILITARY
端子形式:THROUGH-HOLE端子节距:2.54 mm
端子位置:DUAL处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
Base Number Matches:1

SN54ALS635JD 数据手册

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