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SN54ALS634FN

更新时间: 2024-09-23 15:51:59
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德州仪器 - TI 逻辑集成电路
页数 文件大小 规格书
16页 494K
描述
ALS SERIES, 32-BIT ERROR DETECT AND CORRECT CKT, PQCC68

SN54ALS634FN 技术参数

生命周期:Obsolete包装说明:QCCJ,
Reach Compliance Code:unknownHTS代码:8542.39.00.01
风险等级:5.84Is Samacsys:N
其他特性:BUILT IN DIAGNOSTICS系列:ALS
JESD-30 代码:S-PQCC-J68长度:24.2316 mm
负载电容(CL):50 pF逻辑集成电路类型:ERROR DETECTION AND CORRECTION CIRCUIT
位数:32功能数量:1
端子数量:68最高工作温度:125 °C
最低工作温度:-55 °C输出特性:3-STATE
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:QCCJ
封装形状:SQUARE封装形式:CHIP CARRIER
最大电源电流(ICC):250 mA传播延迟(tpd):65 ns
认证状态:Not Qualified座面最大高度:4.57 mm
最大供电电压 (Vsup):5.5 V最小供电电压 (Vsup):4.5 V
标称供电电压 (Vsup):5 V表面贴装:YES
技术:TTL温度等级:MILITARY
端子形式:J BEND端子节距:1.27 mm
端子位置:QUAD宽度:24.2316 mm
Base Number Matches:1

SN54ALS634FN 数据手册

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