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SCANH162512ASM/NOPB

更新时间： 2024-01-14 01:27:38
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 输出元件逻辑集成电路触发器
页数 文件大小 规格书
12页 193K
描述
SCAN/JTAG/3J SERIES, DUAL 8-BIT BOUNDARY SCAN TRANSCEIVER, TRUE OUTPUT, PBGA64, BGA-64

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SCANH162512ASM/NOPB 技术参数

是否Rohs认证： 符合生命周期：Obsolete
包装说明：LFBGA, BGA64,8X8,32Reach Compliance Code：compliant
风险等级：5.84控制类型：INDEPENDENT CONTROL
计数方向：BIDIRECTIONAL系列：SCAN/JTAG/3J
JESD-30 代码：S-PBGA-B64JESD-609代码：e1
长度：8 mm负载电容（CL）：30 pF
逻辑集成电路类型：BOUNDARY SCAN BUS TRANSCEIVER最大I（ol）：0.012 A
湿度敏感等级：4位数：8
功能数量：2端口数量：2
端子数量：64最高工作温度：85 °C
最低工作温度：-40 °C输出特性：3-STATE WITH SERIES RESISTOR
输出极性：TRUE封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：LFBGA封装等效代码：BGA64,8X8,32
封装形状：SQUARE封装形式：GRID ARRAY, LOW PROFILE, FINE PITCH
峰值回流温度（摄氏度）：260电源：3/3.3 V
Prop。Delay @ Nom-Sup：6 ns传播延迟（tpd）：6.5 ns
认证状态：Not Qualified座面最大高度：1.5 mm
子类别：Bus Driver/Transceivers最大供电电压 (Vsup)：3.6 V
最小供电电压 (Vsup)：2.7 V标称供电电压 (Vsup)：3.3 V
表面贴装：YES技术：CMOS
温度等级：INDUSTRIAL端子面层：Tin/Silver/Copper (Sn/Ag/Cu)
端子形式：BALL端子节距：0.8 mm
端子位置：BOTTOM处于峰值回流温度下的最长时间：40
翻译：N/A触发器类型：POSITIVE EDGE
宽度：8 mmBase Number Matches：1

SCANH162512ASM/NOPB 数据手册

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Pin Descriptions  
Pin  
Description  
Name  
A10-A17,  
A20-A27  
B10-B17,  
B20-B27  
CLKAB1,  
CLKBA1,  
CLKAB2,  
CLKBA2  
GND  
Normal-function A-bus I/O ports. See function table for normal-mode logic.  
Normal-function B-bus I/O ports. See function table for normal-mode logic.  
Normal-function clock inputs.See function table for normal-mode logic.  
Ground  
VCC  
Supply Voltage  
LEAB1,  
LEBA1,  
LEAB2,  
LEBA2  
OEAB1,  
OEBA1,  
OEAB2,  
OEBA2  
TDO  
Normal-function latch enables. See function table for normal-mode logic.  
Normal-function output enables. See function table for normal-mode logic.  
The Test Data Output to support IEEE Std 1149.1-1990. TDO is the serial output for shifting data through  
the instruction register or selected data register.  
TMS  
TCK  
TDI  
The Test Mode Select input to support IEEE Std 1149.1-1990. TMS directs the device through it’s TAP  
controller states. An internal pull-up forces TMS high if left unconnected.  
The Test Clock input to support IEEE Std 1149.1-1990. Test operations of the device are synchronous to  
TCK. Data is captured on the rising edge of TCK and outputs change on the falling edge of TCK.  
The Test Data Input to support IEEE Std 1149.1-1990. TDI is the serial input to shift data through the  
instruction register or the selected data register. An internal pull-up resistor forces TDI high if left  
unconnected.  
TRST  
The Test Reset Input to support IEEE Std 1149.1-1990. TRST is the asynchronous reset pin which will  
force the TAP controller to it’s initialization state when active. An internal pullup resistor forces TRST high if  
left unconnected.  
BGA Pinout  
1
2
A12  
3
A14  
4
A16  
5
6
A22  
7
8
A
B
C
D
E
F
A10  
A11  
A20  
A21  
GND  
VCC  
GND  
N/C  
B21  
B20  
A24  
A26  
A13  
A15  
A17  
A23  
A25  
A27  
TRST  
TMS  
TCK  
CLKAB1  
GND  
GND  
LEBA1  
B13  
LEAB1  
VCC  
OEAB1  
GND  
VCC  
CLKAB2  
GND  
GND  
CLKBA2  
B23  
LEAB2  
TDI  
OEAB2  
TDO  
VCC  
VCC  
N/C  
CLKBA1  
B11  
OEBA1  
B15  
GND  
B17  
LEBA2  
B25  
OEBA2  
B27  
G
H
B10  
B12  
B14  
B16  
B22  
B24  
B26  
www.national.com  
2
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型号 品牌 描述 获取价格 数据表
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