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OPA657TD2

更新时间： 2024-10-28 11:14:27

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德州仪器 - TI		放大器运算放大器
页数	文件大小	规格书
5页	255K
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裸片 1.6GHz 低噪声 FET 输入运算放大器 \| TD \| 0 \| -40 to 85

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OPA657TD2 技术参数

是否Rohs认证：	不符合	生命周期：	Active
包装说明：	DIE,	Reach Compliance Code：	not_compliant
Factory Lead Time：	6 weeks	风险等级：	2.53
放大器类型：	OPERATIONAL AMPLIFIER	架构：	VOLTAGE-FEEDBACK
最大平均偏置电流 (IIB)：	0.00002 µA	25C 时的最大偏置电流 (IIB)：	0.00001 µA
最小共模抑制比：	83 dB	标称共模抑制比：	89 dB
频率补偿：	YES	最大输入失调电流 (IIO)：	0.00001 µA
最大输入失调电压：	1800 µV	JESD-30 代码：	R-XUUC-N7
长度：	0.988 mm	低-偏置：	YES
低-失调：	YES	微功率：	NO
功能数量：	1	端子数量：	7
最高工作温度：	85 °C	最低工作温度：	-40 °C
封装主体材料：	UNSPECIFIED	封装代码：	DIE
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	UNCASED CHIP
峰值回流温度（摄氏度）：	NOT SPECIFIED	功率：	NO
可编程功率：	NO	标称压摆率：	700 V/us
子类别：	Operational Amplifier	最大压摆率：	16 mA
表面贴装：	YES	温度等级：	INDUSTRIAL
端子形式：	NO LEAD	端子位置：	UPPER
处于峰值回流温度下的最长时间：	NOT SPECIFIED	标称均一增益带宽：	1600000 kHz
最小电压增益：	1778.279	宽带：	YES
宽度：	0.866 mm	Base Number Matches：	1

OPA657TD2 数据手册

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OPA657-DIE

ZHCSFC1 –AUGUST 2016

OPA657-DIE 1.6GHz、低噪声、FET 输入运算放大器

1 特性

3 说明

•

高增益带宽积：1.6GHz

OPA657 器件将高增益带宽、低失真、电压反馈运算

放大器与低电压噪声结型场效应管 (JFET) 输入级相结

合，为高精度模数转换器 (ADC) 的驱动或宽带互阻抗

应用提供了一个动态范围较大的放大器。光电二极管

应用使用这种非完全补偿型高增益带宽放大器降低噪

声并改善带宽。

高带宽：275MHz (G = 10)

转换率：700V/µs（G = 10，步长为 1V）

低输入偏移电压：±250µV

低输入偏置电流：2pA

低输入电压噪声：4.8nV/√Hz

高输出电流：70mA

极低电平信号可在带宽和精度特性优异的单一

快速过驱恢复

OPA657 增益级中得到显着放大。即使对于相对较高

的源阻抗，极低的输入偏置电流和电容也支持这种性

能。宽带光电探测器应用受益于 OPA657 的低电压噪

声 JFET 输入。JFET 输入几乎不产生电流噪声，该器

件因此成为高增益光电二极管应用的理想选择。

2 应用

•

宽带光电二极管放大器

晶圆扫描设备

模数转换器 (ADC) 输入放大器

测试和测量前端

高增益精密放大器

光时域反射计 (OTDR)

Ordering Information⁽¹⁾

PACKAGE

PRODUCT

PACKAGE

ORDERABLE PART NUMBER

PACKAGE QUANTITY

DESIGNATOR

OPA657TD1

OPA657TD2

324

OPA657

Bare Die in Gel Pak VR⁽²⁾

(1) For the most current package and ordering information, see the Package Option Addendum at the end of this document, or see the TI

web site at www.ti.com.

(2) Processing is per the Texas Instruments commercial production baseline and is in compliance with the Texas Instruments Quality

Control System in effect at the time of manufacture. Electrical screening consists of DC parametric and functional testing at room

temperature only. Unless otherwise specified by Texas Instruments AC performance and performance over temperature is not

warranted. Visual Inspection is performed in accordance with MIL-STD-883 Test Method 2010 Condition B at 75X minimum.

An IMPORTANT NOTICE at the end of this data sheet addresses availability, warranty, changes, use in safety-critical applications,

intellectual property matters and other important disclaimers. PRODUCTION DATA.

English Data Sheet: SBOS787

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