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KFN2G16Q2M-DEB6T PDF预览

KFN2G16Q2M-DEB6T

更新时间: 2024-11-09 15:36:19
品牌 Logo 应用领域
三星 - SAMSUNG 内存集成电路
页数 文件大小 规格书
124页 1556K
描述
Flash, 128MX16, 76ns, PBGA63

KFN2G16Q2M-DEB6T 技术参数

是否无铅: 不含铅是否Rohs认证: 符合
生命周期:Obsolete包装说明:FBGA, BGA63,10X12,32
Reach Compliance Code:compliant风险等级:5.79
最长访问时间:76 ns命令用户界面:YES
数据轮询:NOJESD-30 代码:R-PBGA-B63
JESD-609代码:e3内存密度:2147483648 bit
内存集成电路类型:FLASH内存宽度:16
湿度敏感等级:1部门数/规模:2K
端子数量:63字数:134217728 words
字数代码:128000000最高工作温度:85 °C
最低工作温度:-30 °C组织:128MX16
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装代码:FBGA
封装等效代码:BGA63,10X12,32封装形状:RECTANGULAR
封装形式:GRID ARRAY, FINE PITCH页面大小:1K words
并行/串行:PARALLEL峰值回流温度(摄氏度):225
电源:1.8 V认证状态:Not Qualified
就绪/忙碌:YES部门规模:64K
最大待机电流:0.00005 A子类别:Flash Memories
最大压摆率:0.04 mA标称供电电压 (Vsup):1.8 V
表面贴装:YES技术:CMOS
温度等级:OTHER端子面层:MATTE TIN
端子形式:BALL端子节距:0.8 mm
端子位置:BOTTOM处于峰值回流温度下的最长时间:NOT SPECIFIED
切换位:YES类型:NAND TYPE
Base Number Matches:1

KFN2G16Q2M-DEB6T 数据手册

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MuxOneNAND1G(KFM1G16Q2M-DEB5)  
MuxOneNAND2G(KFN2G16Q2M-DEB5)  
FLASH MEMORY  
MuxOneNANDTM Specification  
Density  
1Gb  
Part No.  
VCC(core & IO)  
1.8V(1.7V~1.95V)  
1.8V(1.7V~1.95V)  
Temperature  
Extended  
PKG  
KFM1G16Q2M-DEB5  
KFN2G16Q2M-DEB5  
63FBGA(LF)  
63FBGA(LF)  
2Gb  
Extended  
Version: Ver. 1.2  
Date: Dec. 23, 2005  
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