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K4M64163LK-BL1LT

更新时间: 2024-01-30 11:55:48
品牌 Logo 应用领域
三星 - SAMSUNG 时钟动态存储器内存集成电路
页数 文件大小 规格书
12页 113K
描述
Synchronous DRAM, 4MX16, 7ns, CMOS, PBGA54

K4M64163LK-BL1LT 技术参数

是否Rohs认证: 符合生命周期:Active
Reach Compliance Code:compliant风险等级:5.75
最长访问时间:7 ns最大时钟频率 (fCLK):111 MHz
I/O 类型:COMMON交错的突发长度:1,2,4,8
JESD-30 代码:S-PBGA-B54内存密度:67108864 bit
内存集成电路类型:SYNCHRONOUS DRAM内存宽度:16
端子数量:54字数:4194304 words
字数代码:4000000最高工作温度:70 °C
最低工作温度:-25 °C组织:4MX16
输出特性:3-STATE封装主体材料:PLASTIC/EPOXY
封装代码:FBGA封装等效代码:BGA54,9X9,32
封装形状:SQUARE封装形式:GRID ARRAY, FINE PITCH
电源:2.5 V认证状态:Not Qualified
刷新周期:4096连续突发长度:1,2,4,8,FP
最大待机电流:0.0005 A子类别:DRAMs
最大压摆率:0.1 mA标称供电电压 (Vsup):2.5 V
表面贴装:YES技术:CMOS
温度等级:OTHER端子形式:BALL
端子节距:0.8 mm端子位置:BOTTOM
Base Number Matches:1

K4M64163LK-BL1LT 数据手册

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K4M64163LK - R(B)N/G/L/F  
Mobile-SDRAM  
FUNCTIONAL BLOCK DIAGRAM  
LWE  
Data Input Register  
LDQM  
Bank Select  
1M x 16  
1M x 16  
1M x 16  
1M x 16  
DQi  
CLK  
ADD  
Column Decoder  
Latency & Burst Length  
LCKE  
Programming Register  
LWCBR  
LRAS  
LCBR  
LWE  
LCAS  
LDQM  
Timing Register  
CLK  
CKE  
CS  
RAS  
CAS  
WE  
L(U)DQM  
2
January 2006  

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