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HCS241D/SAMPLE

更新时间： 2024-02-02 03:50:08

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瑞萨 - RENESAS		驱动输出元件逻辑集成电路
页数	文件大小	规格书
9页	171K
描述
HC/UH SERIES, DUAL 4-BIT DRIVER, TRUE OUTPUT, CDIP20

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HCS241D/SAMPLE 技术参数

生命周期：	Obsolete	零件包装代码：	DIP
包装说明：	DIP,	针数：	20
Reach Compliance Code：	unknown	HTS代码：	8542.39.00.01
风险等级：	5.1	系列：	HC/UH
JESD-30 代码：	R-CDIP-T20	逻辑集成电路类型：	BUS DRIVER
位数：	4	功能数量：	2
端口数量：	2	端子数量：	20
输出特性：	3-STATE	输出极性：	TRUE
封装主体材料：	CERAMIC, METAL-SEALED COFIRED	封装代码：	DIP
封装形状：	RECTANGULAR	封装形式：	IN-LINE
传播延迟（tpd）：	21 ns	认证状态：	Not Qualified
座面最大高度：	5.08 mm	最大供电电压 (Vsup)：	5.5 V
最小供电电压 (Vsup)：	4.5 V	标称供电电压 (Vsup)：	5 V
表面贴装：	NO	技术：	CMOS
端子形式：	THROUGH-HOLE	端子节距：	2.54 mm
端子位置：	DUAL	宽度：	7.62 mm
Base Number Matches：	1

HCS241D/SAMPLE 数据手册

Speciﬁcations HCS241MS

TABLE 6. APPLICABLE SUBGROUPS

CONFORMANCE GROUPS

Initial Test (Preburn-In)

METHOD

100%/5004

Sample/5005

GROUP A SUBGROUPS

READ AND RECORD

ICC, IOL/H, IOZL/H

1, 7, 9

Interim Test I (Postburn-In)

Interim Test II (Postburn-In)

PDA

1, 7, 9

1, 7, 9, Deltas

1, 7, 9

Interim Test III (Postburn-In)

PDA

ICC, IOL/H, IOZL/H

1, 7, 9, Deltas

2, 3, 8A, 8B, 10, 11

1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11

1, 2, 3, 7, 8A, 8B, 9, 10, 11, Deltas

1, 7, 9

Final Test

Group A (Note 1)

Group B

Subgroup B-5

Subgroup B-6

Subgroups 1, 2, 3, 9, 10, 11

Group D

NOTE:

1, 7, 9

1. Alternate Group A testing in accordance with Method 5005 of MIL-STD-883 may be exercised.

TABLE 7. TOTAL DOSE IRRADIATION

TEST

READ AND RECORD

CONFORMANCE

GROUPS

Group E Subgroup 2

NOTE:

METHOD

PRE RAD

POST RAD

PRE RAD

1, 9

POST RAD

5005

1, 7, 9

Table 4

Table 4 (Note 1)

1. Except FN test which will be performed 100% Go/No-Go.

TABLE 8. STATIC AND DYNAMIC BURN-IN TEST CONNECTIONS

OSCILLATOR

OPEN

GROUND

1/2 VCC = 3V ± 0.5V

VCC = 6V ± 0.5V

50kHz

25kHz

STATIC BURN-IN I TEST CONDITIONS (Note 1)

3, 5, 7, 9, 12, 14, 16,

1, 2, 4, 6, 8, 10, 11, 13,

15, 17, 19

STATIC BURN-IN II TEST CONNECTIONS (Note 1)

3, 5, 7, 9, 12, 14, 16,

1, 2, 4, 6, 8, 11, 13,

15, 17, 19, 20

DYNAMIC BURN-IN TEST CONNECTIONS (Note 1)

1, 10

3, 5, 7, 9, 12, 14, 16,

19, 20

2, 4, 6, 8, 11, 13,

15, 17

NOTES:

1. Each pin except VCC and GND will have a series resistor of 10KΩ ± 5%.

2. Each pin except VCC and GND will have a series resistor of 680Ω ± 5%

TABLE 9. IRRADIATION TEST CONNECTIONS

OPEN

GROUND

VCC = 5V ± 0.5V

3, 5, 7, 9, 12, 14, 16, 18

1, 2, 4, 6, 8, 11, 13, 15, 17, 19, 20

NOTE: Each pin except VCC and GND will have a series resistor of 47KΩ ± 5%. Group E,

Subgroup 2, sample size is 4 dice/wafer, 0 failures.

Spec Number 518838

307

1...3 4 567 8 9

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