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FM25C160ULZEN

更新时间： 2024-02-19 04:03:04
品牌 Logo 应用领域
飞兆/仙童 - FAIRCHILD 存储内存集成电路光电二极管可编程只读存储器电动程控只读存储器电可擦编程只读存储器时钟
页数 文件大小 规格书
11页 104K
描述
SERIAL EEPROM|2KX8|CMOS|DIP|8PIN|PLASTIC

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FM25C160ULZEN 技术参数

是否无铅： 含铅是否Rohs认证： 不符合
生命周期：Contact Manufacturer零件包装代码：DIP
包装说明：DIP,针数：8
Reach Compliance Code：unknownECCN代码：EAR99
HTS代码：8542.32.00.51风险等级：5.8
最大时钟频率 (fCLK)：2.1 MHzJESD-30 代码：R-PDIP-T8
JESD-609代码：e0长度：9.817 mm
内存密度：16384 bit内存集成电路类型：EEPROM
内存宽度：8功能数量：1
端子数量：8字数：2048 words
字数代码：2000工作模式：SYNCHRONOUS
最高工作温度：70 °C最低工作温度：
组织：2KX8封装主体材料：PLASTIC/EPOXY
封装代码：DIP封装形状：RECTANGULAR
封装形式：IN-LINE并行/串行：SERIAL
峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED认证状态：Not Qualified
座面最大高度：5.08 mm串行总线类型：SPI
最大供电电压 (Vsup)：5.5 V最小供电电压 (Vsup)：4.5 V
标称供电电压 (Vsup)：5 V表面贴装：NO
技术：CMOS温度等级：COMMERCIAL
端子面层：TIN LEAD端子形式：THROUGH-HOLE
端子节距：2.54 mm端子位置：DUAL
处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED宽度：7.62 mm
最长写入周期时间 (tWC)：10 msBase Number Matches：1

FM25C160ULZEN 数据手册

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Standard Voltage 4.5 ≤ VCC ≤ 5.5V Specifications  
Operating Conditions  
Absolute Maximum Ratings (Note 1)  
Ambient Operating Temperature  
FM25C160U  
Ambient Storage Temperature  
-65°C to +150°C  
0°C to +70°C  
-40°C to +85°C  
-40°C to +125°C  
All Input or Output Voltage with  
Respect to Ground  
FM25C160UE  
FM25C160UV  
+6.5V to -0.3V  
+300°C  
Lead Temp. (Soldering, 10 sec.)  
ESD Rating  
Power Supply (VCC  
)
4.5V to 5.5V  
2000V  
DC and AC Electrical Characteristics 4.5V ≤ VCC ≤ 5.5V (unless otherwise specified)  
Symbol  
Parameter  
Conditions  
Min  
Max  
Units  
ICC  
ICCSB  
IIL  
Operating Current  
/CS = VIL  
3
50  
mA  
µA  
µA  
µA  
V
Standby Current  
/CS = VCC  
Input Leakage  
VIN = 0 to VCC  
VOUT = GND to VCC  
-1  
-1  
+1  
IOL  
Output Leakage  
+1  
VIL  
CMOS Input Low Voltage  
CMOS Input High Voltage  
Output Low Voltage  
Output High Voltage  
SCK Frequency  
-0.3  
VCC * 0.3  
VCC + 0.3  
0.4  
VIH  
VOL  
VOH  
fOP  
0.7 * VCC  
V
IOL = 1.6 mA  
IOH = -0.8 mA  
V
VCC - 0.8  
V
2.1  
2.0  
2.0  
MHz  
µs  
µs  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ns  
ms  
tRI  
Input Rise Time  
tFI  
Input Fall Time  
tCLH  
tCLL  
tCSH  
tCSS  
tDIS  
tHDS  
tCSN  
tDIN  
tHDN  
tPD  
Clock High Time  
Clock Low Time  
(Note 2)  
(Note 2)  
(Note 3)  
190  
190  
240  
240  
100  
90  
Min /CS High Time  
/CS Setup Time  
Data Setup Time  
/HOLD Setup Time  
/CS Hold Time  
240  
100  
90  
Data Hold Time  
/HOLD Hold Time  
Output Delay  
CL = 200 pF  
240  
tDH  
Output Hold Time  
/HOLD to Output Low Z  
Output Disable Time  
/HOLD to Output High Z  
Write Cycle Time  
0
tLZ  
100  
240  
100  
10  
tDF  
CL = 200 pF  
tHZ  
tWP  
1–16 Bytes  
Capacitance TA = 25°C, f = 2.1/1 MHz (Note 4)  
AC Test Conditions  
Output Load  
CL = 200 pF  
Symbol  
COUT  
Test  
Typ Max Units  
Input Pulse Levels  
0.1 * VCC – 0.9 * VCC  
Output Capacitance  
Input Capacitance  
3
2
8
6
pF  
pF  
Timing Measurement Reference Level 0.3 * VCC - 0.7 * VCC  
CIN  
Note 1: Stress above those listed under “Absolute Maximum Ratings” may cause permanent damage to the device. This is a stress rating only, and functional operation of the  
device at these or any other conditions above those indicated in the operational sections of the specification is not implied. Exposure to absolute maximum rating conditions for  
extended periods may affect device reliability.  
Note 2: The fOP frequency specification specifies a minimum clock period of 1/fOP. Therefore, for every fOP clock cycle, tCLH + tCLL must be equal to or greater than 1/fOP. For  
example, for a fOP of 2.1MHz, the period equals 476ns. In this case if t CLH = is set to 190ns, then tCLL must be set to a minimum of 286ns.  
Note 3: /CS must be brought high for a minimum of tCSH between consecutive instruction cycles.  
Note 4: This parameter is periodically sampled and not 100% tested.  
3
www.fairchildsemi.com  
FM25C160U Rev. B  
1234567...11

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