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DM54LS193W/883

更新时间： 2024-09-18 20:32:55
品牌 Logo 应用领域
德州仪器 - TI 输出元件逻辑集成电路触发器
页数 文件大小 规格书
8页 22K
描述
LS SERIES, SYN POSITIVE EDGE TRIGGERED 4-BIT BIDIRECTIONAL BINARY COUNTER, CDFP16, CERAMIC, DFP-16

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DM54LS193W/883 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
包装说明：DFP, FL16,.3Reach Compliance Code：unknown
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.43
Is Samacsys：N其他特性：TCO UP AND TCO DOWN OUTPUTS; SEPARATE UP/DOWN CLOCK
计数方向：BIDIRECTIONAL系列：LS
JESD-30 代码：R-GDFP-F16JESD-609代码：e0
长度：9.6645 mm负载电容（CL）：15 pF
负载/预设输入：YES逻辑集成电路类型：BINARY COUNTER
最大频率@ Nom-Sup：20000000 Hz最大I（ol）：0.004 A
工作模式：SYNCHRONOUS位数：4
功能数量：1端子数量：16
最高工作温度：125 °C最低工作温度：-55 °C
封装主体材料：CERAMIC, GLASS-SEALED封装代码：DFP
封装等效代码：FL16,.3封装形状：RECTANGULAR
封装形式：FLATPACK峰值回流温度（摄氏度）：NOT SPECIFIED
电源：5 V最大电源电流（ICC）：34 mA
传播延迟（tpd）：52 ns认证状态：Not Qualified
筛选级别：MIL-STD-883座面最大高度：2.032 mm
子类别：Counters最大供电电压 (Vsup)：5.5 V
最小供电电压 (Vsup)：4.5 V标称供电电压 (Vsup)：5 V
表面贴装：YES技术：TTL
温度等级：MILITARY端子面层：Tin/Lead (Sn/Pb)
端子形式：FLAT端子节距：1.27 mm
端子位置：DUAL处于峰值回流温度下的最长时间：NOT SPECIFIED
触发器类型：POSITIVE EDGE宽度：6.604 mm
最小 fmax：30 MHzBase Number Matches：1

DM54LS193W/883 数据手册

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MICROCIRCUIT DATA SHEET  
Original Creation Date: 04/25/98  
Last Update Date: 07/17/98  
MNDM54LS193-X REV 1A0  
Last Major Revision Date: 04/25/98  
UP/DOWN BINARY COUNTER (with Separate Up/Down Clocks)  
General Description  
The '193 is an up/down modulo-16 binary counter. Separate Count Up and Count Down Clocks  
are used and in either counting mode the circuits operate synchronously. The outputs  
change state synchronous with the LOW-to-HIGH transitions on the clock inputs. Separate  
Terminal Count Up and Terminal Count Down outputs are provided which are used as the  
clocks for subsequent stages without extra logic, thus simplifying multistage counter  
design. Individual preset inputs allow the circuits to be used as programmable counters.  
Both the Parallel Load (/PL) and the Master Reset (MR) inputs asynchronously override the  
clocks.  
Industry Part Number  
NS Part Numbers  
54LS193  
DM54LS193E/883  
DM54LS193J/883  
DM54LS193W/883  
Prime Die  
L193  
Processing  
Subgrp Description  
Temp (oC)  
MIL-STD-883, Method 5004  
1
Static tests at  
+25  
2
Static tests at  
+125  
-55  
3
Static tests at  
4
Dynamic tests at  
Dynamic tests at  
Dynamic tests at  
Functional tests at  
Functional tests at  
Functional tests at  
Switching tests at  
Switching tests at  
Switching tests at  
+25  
Quality Conformance Inspection  
5
+125  
-55  
6
MIL-STD-883, Method 5005  
7
+25  
8A  
8B  
9
+125  
-55  
+25  
10  
11  
+125  
-55  
1
12345678

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