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CEB04N7G

更新时间: 2024-01-07 07:38:07
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华瑞 - CET 晶体晶体管
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4页 424K
描述
N-Channel Enhancement Mode Field Effect Transistor

CEB04N7G 技术参数

生命周期:Contact Manufacturer包装说明:SMALL OUTLINE, R-PSSO-G2
Reach Compliance Code:unknown风险等级:5.84
雪崩能效等级(Eas):43 mJ外壳连接:DRAIN
配置:SINGLE WITH BUILT-IN DIODE最小漏源击穿电压:700 V
最大漏极电流 (Abs) (ID):4 A最大漏极电流 (ID):4 A
最大漏源导通电阻:3.3 ΩFET 技术:METAL-OXIDE SEMICONDUCTOR
最大反馈电容 (Crss):20 pFJEDEC-95代码:TO-263AB
JESD-30 代码:R-PSSO-G2元件数量:1
端子数量:2工作模式:ENHANCEMENT MODE
最高工作温度:150 °C最低工作温度:-55 °C
封装主体材料:PLASTIC/EPOXY封装形状:RECTANGULAR
封装形式:SMALL OUTLINE极性/信道类型:N-CHANNEL
最大功率耗散 (Abs):84 W最大脉冲漏极电流 (IDM):16 A
表面贴装:YES端子形式:GULL WING
端子位置:SINGLE晶体管元件材料:SILICON
最大关闭时间(toff):119 ns最大开启时间(吨):70 ns

CEB04N7G 数据手册

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CEP04N7G/CEB04N7G  
CEF04N7G  
102  
10  
8
VDS=480V  
ID=4A  
4
101  
100  
10-1  
RDS(ON)Limit  
1ms  
10ms  
100ms  
DC  
6
4
2
TC=25 C  
TJ=175 C  
Single Pulse  
0
100  
101  
102  
103  
0
3
6
9
12  
15  
Qg, Total Gate Charge (nC)  
VDS, Drain-Source Voltage (V)  
Figure 7. Gate Charge  
Figure 8. Maximum Safe  
Operating Area  
VDD  
on  
t
toff  
d(off)  
t
r
t
d(on)  
OUT  
RL  
t
f
t
VIN  
90%  
10%  
90%  
D
OUT  
V
V
VGS  
10%  
INVERTED  
RGEN  
G
90%  
50%  
50%  
S
IN  
V
10%  
PULSE WIDTH  
Figure 10. Switching Waveforms  
Figure 9. Switching Test Circuit  
100  
D=0.5  
0.2  
0.1  
10-1  
0.05  
0.02  
0.01  
PDM  
t1  
t2  
Single Pulse  
10-2  
1. Rθ JC (t)=r (t) * Rθ JC  
2. Rθ JC=See Datasheet  
3. TJM-TC = P* Rθ JC (t)  
4. Duty Cycle, D=t1/t2  
10-3  
10-5  
10-4  
10-3  
10-2  
10-1  
100  
101  
Square Wave Pulse Duration (sec)  
Figure 11. Normalized Thermal Transient Impedance Curve  
4

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