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ATF1504ASVL-20QC100

更新时间： 2024-11-01 22:10:51
品牌 Logo 应用领域
爱特美尔 - ATMEL 可编程逻辑器件
页数 文件大小 规格书
29页 312K
描述
Low-voltage, Complex Programmable Logic Device

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ATF1504ASVL-20QC100 技术参数

是否Rohs认证： 不符合生命周期：Obsolete
零件包装代码：QFP包装说明：QFP, QFP100,.7X.9
针数：100Reach Compliance Code：compliant
HTS代码：8542.39.00.01风险等级：5.75
其他特性：YES最大时钟频率：83.3 MHz
系统内可编程：YESJESD-30 代码：R-PQFP-G100
JESD-609代码：e0JTAG BST：YES
长度：20 mm湿度敏感等级：3
专用输入次数：I/O 线路数量：64
宏单元数：64端子数量：100
最高工作温度：70 °C最低工作温度：
组织：0 DEDICATED INPUTS, 64 I/O输出函数：MACROCELL
封装主体材料：PLASTIC/EPOXY封装代码：QFP
封装等效代码：QFP100,.7X.9封装形状：RECTANGULAR
封装形式：FLATPACK峰值回流温度（摄氏度）：225
电源：2.5/3.3,3.3 V可编程逻辑类型：EE PLD
传播延迟：20 ns认证状态：Not Qualified
座面最大高度：3.4 mm子类别：Programmable Logic Devices
最大供电电压：3.6 V最小供电电压：3 V
标称供电电压：3.3 V表面贴装：YES
技术：CMOS温度等级：COMMERCIAL
端子面层：Tin/Lead (Sn/Pb)端子形式：GULL WING
端子节距：0.65 mm端子位置：QUAD
处于峰值回流温度下的最长时间：30宽度：14 mm
Base Number Matches：1

ATF1504ASVL-20QC100 数据手册

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Features  
• High-density, High-performance, Electrically-erasable Complex  
Programmable Logic Device  
– 3.0 to 3.6V Operating Range  
– 64 Macrocells  
– 5 Product Terms per Macrocell, Expandable up to 40 per Macrocell  
– 44, 68, 84, 100 Pins  
– 15 ns Maximum Pin-to-pin Delay  
– Registered Operation up to 77 MHz  
– Enhanced Routing Resources  
• In-System Programmability (ISP) via JTAG  
• Flexible Logic Macrocell  
Low-voltage,  
Complex  
Programmable  
Logic Device  
– D/T/Latch Configurable Flip-flops  
– Global and Individual Register Control Signals  
– Global and Individual Output Enable  
– Programmable Output Slew Rate  
– Programmable Output Open-collector Option  
– Maximum Logic Utilization by Burying a Register with a COM Output  
• Advanced Power Management Features  
– Automatic 5 µA Standby for “L” Version  
– Pin-controlled 100 µA Standby Mode (Typical)  
– Programmable Pin-keeper Circuits on Inputs and I/Os  
– Reduced-power Feature per Macrocell  
• Available in Commercial and Industrial Temperature Ranges  
• Available in 44-, 68-, and 84-lead PLCC; 44- and 100-lead TQFP; and 100-lead PQFP  
• Advanced EE Technology  
ATF1504ASV  
ATF1504ASVL  
– 100% Tested  
– Completely Reprogrammable  
– 10,000 Program/Erase Cycles  
– 20 Year Data Retention  
– 2000V ESD Protection  
– 200 mA Latch-up Immunity  
• JTAG Boundary-scan Testing to IEEE Std. 1149.1-1990 and 1149.1a-1993 Supported  
• PCI-compliant  
• Security Fuse Feature  
Enhanced Features  
• Improved Connectivity (Additional Feedback Routing, Alternate Input Routing)  
• Output Enable Product Terms  
• Transparent-latch Mode  
• Combinatorial Output with Registered Feedback within Any Macrocell  
• Three Global Clock Pins  
• ITD (Input Transition Detection) Circuits on Global Clocks, Inputs and I/O  
• Fast Registered Input from Product Term  
• Programmable “Pin-keeper” Option  
• VCC Power-up Reset Option  
• Pull-up Option on JTAG Pins TMS and TDI  
• Advanced Power Management Features  
– Edge-controlled Power-down “L”  
– Individual Macrocell Power Option  
– Disable ITD on Global Clocks, Inputs and I/O  
Rev. 1409I–PLD–2/03  
1234567...29

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